数字系统测试与可测性设计实验指导书-atpg应用.docVIP

《数字系统测试与可测性设计》 实验指导书（二） 实验教师： 2012年4月9日 实验名称和目的 实验名称：ATPG应用 实验目的：了解Mentor公司的FastScan-(ATPG生成工具 ATPG ：Automatic Test Pattern Generation ATE ：Automated Test Equipment BIST ：Built In Self Test CUT ：Chip/Circuit Under Test DFT ：Design For Testability DRC ：Design Rule Checking PI ：Primary Input PO ：Primary Output 组合ATPG生成工具FastScan 主要特点：?支持对全扫描设计和规整的部分扫描设计自动生成高性能、高质量的测试向量；?提供高效的静态及动态测试向量压缩性能，保证生成的测试向量数量少，质量高；?支持多种故障模型：stuck-at、toggle、transition、critical path和IDDQ;?支持多种扫描类型：多扫描时钟电路，门控时钟电路和部分规整的非扫描电路结构；?支持对包含BIST电路，RAM/ROM和透明Latch的电路结构生成ATPG；?支持多种测试向量类型：Basic,clock-sequential,RAM-Sequential,clock PO,Multi-load;?利用简易的Procedure文件，可以很方便地与其他测试综合工具集成；?通过进行超过140条基于仿真的测试设计规则检查，保证高质量的测试向量生成；?FastScan CPA选项支持at-speed测试用的路径延迟测试向量生成；?FastScan MacroTest选项支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成；?FastScanDiagnostics选项可以通过分析ATE机上失败的测试向量来帮助定位芯片上的故障；?ASICVector Interfaces选项可以针对不同的ASIC工艺与测试仪来生成测试向量；最新的ATPG Accelerator技术可以支持多CPU 分布式运算；?智能的 ATPG专家技术简单易用，用户即使不懂ATPG，也能够由工具自动生成高质量的测试向量；?支持32位或64位的UNIX平台（Solaris,HP-PA)及LINUX操作平台；FastScanATPG流程 由上图可知，在启动FastScan时，FastScan 首先读入、解释并检查门级网表和一个DFT库。如果遇到问题，FastScan会退出并发布一个消息。如果没有遇到问题，FastScan直接进入到配置(Setup)模式。在配置模式，可以使用交互方式或者使用Dofile批处理方式，来建立关于电路和扫描的基本信息，以及指定在设计展平(flattening)阶段时影响生成仿真模型的条件。完成所有配置后，退出配置模式就直接进入到DRC检查阶段，进行DRC检查。如果检查通过，那么直接进入到ATPG模式。进入ATPG模式后由上图可看出，有四个过程：生成错误列表，生成测试模式，压缩测试模式和储存测试向量。 FastScan的输入需要以下几个文件：带Scan chain 的电路网表，库描述文件和FastScan的三个控制文件(*.dofile，*.testproc，Timplate)，下面分别进行详细解释。 1.电路网表(*.v) 已经带有扫描链的Verilog格式的网表。 2.库描述文件(fs_lib) 用于连接厂家提供的Mentor模型库。 3.timeplate文件 timeplate文件描述了ATPG向量中各时间点(输入跳变点，输出取样点，时钟沿位置，周期等) timescale 和测试过程文件(procedure file)文件名，可以根据需要加以修改。 FastScan是以事件为基础的。其时序模型是基于以测试周期划分事件的，主要包含了下列一些事件： force_pi：对PI(Primary Input)输入值。 measure_po：测量PO(Primary Output)的输出值。 capture_clock_on：把捕获时钟打开。 capture_clock_off：把捕获时钟关闭。 ram_clock_on：把用于读写RAM的时钟打开。 ram_clock_off：把用于读写RAM的时钟关闭。 其基本格式如下： timeplate “timeplate_name”= timeplate_statement;... end; 以下是一个实例： // Example Timeplare // 指定了以后所有的时间单位为纳秒(ns)，刻度为1，这一步是必须的。 set time scale 1nS; //