pcs中基线值对累积法反演结果的影响分析 analysis on the effect of baseline value on the inversion results of cumulant method in pcs.pdfVIP

第35卷第3期 光电工程 V01．35，No．3 2008年3月 Opto—Electronic March，2008 Engineering 文章编号：1003—501X(2008)03—0088—05 PCS中基线值对累积法反演结果的影响分析 刘桂强，杨冠玲，周述苍，曾思明，韩 鹏 (华南师范大学物理与电信工程学院，广州510006) 摘要：针对光强自相关函数与归一化光场自相关函数之间的关系，指出基线值的不同会影响到颗粒粒径和分散度 的测量结果．分析了纳米颗粒尺寸和分散度测定的光子相关光谱技术中的累积算法。利用光子相关光谱技术对三 种不同材料共五种尺寸的颗粒进行了测试分析，结果显示：测量基线方法不同，对应的基线值会不同，利用累积 法反演得到的颗粒粒径和分散度的结果也会不同。从理论上分析了反演结果不同的原因。本文确认