si基gan hemt低温欧姆接触工艺研究 research on low temperature ohmic contact technology of si-based gan hemts.pdfVIP

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  • 2017-08-20 发布于上海
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si基gan hemt低温欧姆接触工艺研究 research on low temperature ohmic contact technology of si-based gan hemts.pdf

si基gan hemt低温欧姆接触工艺研究 research on low temperature ohmic contact technology of si-based gan hemts

第33卷第1期 固体电子学研究与进展 V01.33。No.1 2013年2月 OF Feb.,2013 SSE RESEARCH&PROGRESS Si基GaNHEMT低温欧姆接触工艺研究。 王 金“孔 岑 周建军 倪金玉 陈堂胜 刘 涛 (南京电子器件研究所,微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室,南京,210016) 2012—12.03收稿,2012—12—27收改稿 摘要:研究了在si基GaN外延材料上实现低温欧姆接触的技术途径。研究了外延层的刻蚀深度、合金温度以及 nm) 不同金属体系对接触特性的影响,发现外延层刻蚀

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