基于扫描链平衡的3d soc测试优化方法 3d soc test optimization method based on balance of scan chain.pdfVIP

下载本文档

3
0
约 5页
2017-08-21 发布于上海
举报
版权申诉

基于扫描链平衡的3d soc测试优化方法 3d soc test optimization method based on balance of scan chain.pdf

1、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

基于扫描链平衡的3d soc测试优化方法 3d soc test optimization method based on balance of scan chain

第26卷第7期电子测量与仪器学报场f．26№．7 · · 586 】oURNALoFELEcTRoNlCMEASUREMENTANDlNSlRUMENT 2012年7月 DOI：10．3724，sP．J．1187．2012．00586 SoC测试优化方法木基于扫描链平衡的3D 王伟1，3 李欣1’3 陈田1，3 刘军1，3 方芳2 吴玺1’3 合肥工业大学计算机与信息学院，合肥230009；2．合肥工业大学管理学院，合肥230009： 3．情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室，合肥230009) 摘要：三维芯片由于其高性能和低功耗越来越受到人们的欢迎。soc技术是把一个完整的系统集成到单个(或少数几个) 芯片上，从而实现整个系统功能复杂的集成电路。以细粒度划分的3Dsoc实现了真正意义上的3D芯核。它降低了单个芯核内的局部和全局互连线的长度，在功耗和性能方面会有很大的改进。但是随着划分层数的不同，测试开销也会发生变化。本文通过扫描链平衡提出考虑测试时间和测试存储的测试开销函数，以便找到最优的划分层数。在ITc’02基准soc集上的实验结果表明，通过扫描链平衡技术后得到的测试开销比普通测试开销最高降低了19．9％。关键词：划分层数；扫描链平衡：测试开销中图分类号：TP391．7，TN9文献标识码：A 国家标准学科分类代码：520_3 3D based佃bal锄ceofs阴nchain SoC test叩tjlni功ti彻method Wu W西1，3LiXinl3ChenTianl3LiuJunl’3 Xil’3 Wang FangFan92 of of hlfomation，Hefei 230009，China；2．Sch001 (1．School UniVers时ofTechnologyHefei Computer柚d PmVince 230009，China；3．Anhui Mallagement，Hefei KeyLaboratory UniVerS时ofTechnology，Hefei ofA侬圮tive Adv加ced Computing锄dIntelIigentMachine，Hefei230009，China) becomemoreandmore becauseofits aIldlow Abstract：Tllree-dimensional(3D)chippopular highperfo珊ance on intoa 3D powerconsumption．SystemChip(SoC)technologyintegrate