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变温霍耳效应
变温霍耳效应
实验者:余钊焕 合作者:朱 可
(中山大学理工学院,物理学专业2006 级,学号)
2008 年 10 月 5 日
【实验目的】
1. 理解霍耳效应的物理原理;
2. 掌握导电材料的霍耳系数和电导率的测量方法;
3. 进一步理解半导体的导电机制;
4. 测量分析霍耳系数的电导率随温度的变化关系。
【实验仪器】
CVM-200 霍耳效应测试系统(包含 SV-15 低温恒温器、202 型控温仪、C103 型电磁铁
和 LPS305 数控式线性直流稳压电源)、FD-TX-FA 特斯拉计。
【实验原理】
(一)霍耳效应
一矩形载流的导电材料,若在与电流I 垂直的方向上施加一外磁场 B ,则在导电材料内
部与电流和磁场相互垂直的方向上,会产生一横向电位差 V ,这种现象称为霍耳效应,V
H H
称为霍耳电压。霍耳效应的物理原理如图(1)所示。如果导电材料内参与导电的载流子以
电子为主,称为n 型导电材料;若以空穴为主,则称为 p 型导电材料。事实上,存在着数量
级相同的两种载流子参与导电的物理过程。
图 1 霍耳效应原理
(二)单一种载流子的霍耳系数
假设一块宽为 w 厚为 d 的p 型半导体材料,如图 1 (b )所示,空穴载流子荷电量为q 。
若沿 x 方向通以稳恒电流,同时在与电流垂直的方向上施加一均匀外磁场,以平均漂移速度
v 的空穴载流子受到洛伦兹力
FL q v B (1)
的作用。空穴载流子向y 方向偏转,引起 CA 侧负电荷积累和 DB 侧正电荷积累,从而在y
方向上逐渐建立起电场,称为霍耳电场,它对载流子受洛伦兹力的偏转产生阻力
FB qEH (2 )
- 1 -
直到与洛伦兹力平衡为止,即
E vB (3 )
H
若空穴载流子浓度为p ,则载流子平均漂移速度为
I
v (4 )
p q dw
霍耳电压为
IB IB
V E w R (5 )
H H
p qd d
式中 R 为霍耳系数。对于空穴载流子,可得
1 1
R (6 )
p q pe
同理,对多数载流子为电子的 n 型半导体
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