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PocKet UT实际操作培训 美国物理声学公司北京代表处 公司介绍： 美国物理声学公司（PAC）推出当今世界上首款基于PDA的手持式A/B/C-扫描检测系统--Pocket UT。既可用于高性能的常规超声探伤及测厚检测；又可对缺陷进行数字化、图象化的C-扫描数据采集和分析；适用于大量的现场腐蚀检测。系统采用电池供电，手掌般大小，带有干偶合传感器的位置编码扫查器。系统的软件基于当今流行的Windows CE 系统。硬件为集成最新流行的掌上电脑与最先进的数字化超声及位置编码硬件于一体的，并配有鼠标式二维超声扫查器（Z扫描）的手持式系统。所以它不同于目前市场上众多的数字超声探伤仪；非简单的超声测厚仪；而是一套微型化、口袋里的典型超声C-扫描成像系统。系统现场工作由可充电电池供电，电池连续工作时间可达4小时。使用90 - 240 V交流/直流电源适配器进行充电。 TOFD技术基础知识 通过该部分学习，学员应能熟练组装扫查装置，了解TOFD检测中的波型及不同缺陷回波的相位关系 TOFD检测设备的基本配置 PCS的计算 PCS代表两只TOFD探头入射点之间的距离，按间距应该使便探头的主声线交汇于板厚的三分之二处，因此可以根据探头在工件中角度代板厚代入下列公式中计算出PCS间距 算好PCS后除于2即为探头单边距离S，松开扫查架上的探头螺丝，移动探头使得探头两边距离距扫查加中心距离等于S，拧紧螺丝，PCS调整完毕。仪器主菜单中点击【选项】再选【尖端衍射渡越时间】进入TOFD扫查界面，选【菜单】或点击进入【TOFD设置】，可在【探头】界面输入PCS数值、探头角度和扫描方向。 TOFD扫查装置基本要求及组装方法 (1) TOFD探头组可以用手移动扫查或者使用自动扫查器，对TOFD扫查的基本要求是： （a）与工件表面耦合要良好；（b）扫查架有足够刚性，能保证探头间距不变；（c）保证扫查沿设定的路径进行；（d）探头可调整，在不平的表面能够保证良好接触。 (2) 设备安装图 探头 楔块 扫查时必须借助用扫查架夹持两个TOFD探头。可利用改变探头间距的方法来现实声束在某一次深度范围聚焦。探头角度的改变则是利用不同的楔块来现实。 波形中，相位关系的介绍 6.扫查类型 扫查类型：非平行对称扫查、非平行左偏置扫查、非平行右偏置扫查、平行扫查。 7.TOFD技术的特点 与脉冲反射法超声波检测和射线检测相比，TOFD的主要优点在于：（1）缺陷的衍射信号与缺陷的方向无关，缺陷检出率高；（2）超声波束覆盖区域大；（3）缺陷高度测量精确；（4）实时成像，快速分析；（5）缺陷的定量不依赖于缺陷的回波幅度；（6）快速、安全、方便。 但TOFD也存在其局限性，主要有：（1）由于TOFD的直通波和底面反射波均有一定的宽度，处于此范围的缺陷波难以被发现，因此在扫查面和底面存在几毫米的表面盲区；（2）TOFD信号较弱，易受噪声影响；（3）倾向于“过分夸大”中下部缺陷和部分良性缺陷，比如气孔、夹层等；（4）TOFD数据分析对检测人员要求高。 TOFD图像的扫查及处理 通过该部分学习，学员基本掌握仪器的操作及图像的基本处理方法及分析方法 TOFD图像应具备的要素 一张合格的TOFD扫查图像，设备参 数的调整必须满足以下三要素：即增益适 当，门控合理，电噪声最小。唯其如此， 图像质量才能获得保证，条纹图中的直通 波、底面反射波和缺陷衍射波等信号条纹， 才能得到清晰显示。图中示有深度位置不 同的四种缺陷。右图 检测准备 （1）在实施检测前，应了解被检工件情况，这可辅助检测人员提高检测质量和解释超声信号；如：表面状态，结构形式等工艺。 （2）探头选取和设置 探头选取包括探头型式、参数的选择。TOFD检测一般选择宽角度纵波斜探头，对于每一组探头对的两个探头，其标称频率应相同，声束角度和晶片直径宜相同。 a.当工件厚度t≤50mm时，可采用一组探头对检测；当工件厚度t＞50mm时，应在厚度方向分成若干区域采用不同设置的探头对进行检测。两种情况下，探头声束在所检测区域高度范围内相对声束轴线处的声压幅值不应超过12dB。同时，检测工件底面的探头声束与底面法线间的夹角不应小于40°。 b.与工件厚度有关的检测分区、探头参数选择可参考表1 c.调校编码器 编码器是通过滚轮转动时引起编码器内部脉冲激发次数来记录扫查过程的长度距离。进入编码器的校准程序后，先量出一段准确的距离，例如200mm，将扫查器置于起点位置，记录当前分辨率数值；然后推行扫查器到200mm终点位置，再记录行驶后的数值；最后通过公式计算，再将其数值输入到【扫查器】界面中【步进分辨率】。如已知与实际测量步进一致，则编码器较准完毕。 （