二极管包络检波实验报告.docx

实验设计方案实验序号实验名称试验时间实验室小组成员实验目的掌握调幅波的解调方法。掌握二极管包络检波的原理。掌握包络检波的主要技术指标。掌握各种检波波形失真的产生原因及克服方法。实验原理、试验流程或装置示意图实验原理：图6-1是二极管大信号包络检波电路图6-2表明了大信号检波的工作原理。输入信号)(Ui(t)为正并超过C和LR上的)( U0(t)时二极管导通信号通过二极管向C充电此时)( U0(t)随充电电压上升而升高。当)( (Ui(t)下降且小于)(0tu时二极管反向截止此时停止向C充电并通过LR放电)( U0(t)随放电而下降。充电时二极管的正向电阻Dr较小充电较快)( U0(t)以近)(Ui(t)上升的速率升高。放电时因电阻LR比Dr大得多通常kRL10~5放故)( U0(t)的波动小并保证基本上接近于)( (Ui(t)的幅值。如果)((Ui(t)是高频等幅波且LR很大则)( U0(t)几乎是大小为U0的直流电压这正是带有滤波电容的半波整流电路。当输入信号)( (Ui(t)的幅度增大或减少时检波器输出电压)( U0(t)也将随之近似成比例地升高或降低。当输入信号为调幅波时检波器输出电压)( U0(t)就随着调幅波的包络线而变化从而获得调制信号完成检波作用由于输出电压)( U0(t)的大小与输入电压的峰值接近相等故把这种检波器称为峰值包络检波器。30实验设备及材料1、20MHz双踪模拟示波器一台2、高频信号源3万能表4．试验方法步骤及注意事项1.在主板上正确插好集电极调幅与大信号检波模块，对照集电极调幅与大信号检波模块部分的丝印，正确的连接实验电路，K1向左拨，J1向下拨+12V接+12V,GND（从主板直流电源部分+12V和GND插孔用连接线接入），检查连接正确无误后打开实验箱电源开光（实验箱左侧的船型开关）。K1向右拨，若正确连接则模块上的电源指示灯LED亮，产生调幅波。调节静态工作点：调W1是Q1发射极电压UEQ=2.1V。从INI或IN2处输入10.7MHZ的载波信号（Vp-p=900mv左右，此处信号由高频信号源提供，在实验过程中可微调载波大小获得最好的条幅波），在TT1出用示波器观察输出波形，调节T1，T2，CC1，CC2，使TT1处信号最大且不失真，测试动态调制特性（调制信号和载波输入建议使用射频连接线）用示波器在Q2发射极测试波形，改变载波信号的大小，直到观察到波形有下凹现象为止。此时Q2工作在过压状态，保持载波信号幅度不变，从IN3或IN4处输入1KHZ的正弦调制信号VΩ（VΩ由低频信号源提供，参考低频信号源使用方法），VΩ由小变大，此时用示波器在TT1出可观察到调幅信号。观察检波器输出波形 J1向上拨即调幅波接入到检波器中，用示波器在TT2出观察一下三种情况的检波器的输出波形。J2，J5向上拨，J3，J4，J6向下拨，观察不失真检波输出波形。J3，J5向上拨，J2，J4，J6向下拨，观察对角线切割失真现象。J2，J6向上拨，J3，J4，J5向下拨，观察负峰切割失真现象。注意：实验中若现像不明显可改变J2、J3、J4、J5、J6的拨动方向，以或得最佳实验效果。5.实验数据处理方法将实验数据传入示波器以图像的方式处理。6.参考文献高频电子线路胡宴如耿苏燕主编高频电子电路王卫东电子工业出版社高频电子技术朱小祷陈晓黎北京大学出版教师对实验设计方案的意见签名：年月日实验报告实验现象与结果试验得到输入的波形及数据如下输出的波形如下对实验现象、实验结果的分析及结论检波输出可能产生三种失真：第一由于检波二极管伏安特性弯曲引起的非线性失真；第二是由于滤波电容放电慢引起的惰性失真；第三是由于输出耦合电容上所充的直流电压引起的负峰值失真，其中第一种失真主要存在于小信号检波中并且是小信号检波器中不可避免的失真。对于大信号检波器这种失真影像不大，主要是后两种失真。（1）惰性失真（对角失真）（2）、割底失真三．实验总结1.本次试验成败及原因分析惰性失真（对角线切割失真）断开J1、J3连接J2由IN1端加入普通调幅波AM分别调节集成乘法器幅度调制实验电路板上产生的普通调幅波AM的调幅系数m a、调制信号频率Ω、二极管大信号包络检波实验电路上电位器RW1在TP2点观测图6-3所示惰性失真波形图。改变调幅系数m a、调制信号频率Ω、二极管大信号包络检波实验电路上电位器RW1使对角线失真消失验证避免对角线失真条件。上式表明Ma或Ω大，则包络变化快，CR放电慢，这些都促成发生放电失真负峰切割失真产生的原因是检波器输出常用隔直流电流电容与下级耦合，检波器的直流负载与交流负载不相等，调制度相当大引起的，不产生割底失真的条件,为ma,R是检波器的直流负载，而RL’是检波器的低频交流负载为了防止底部切割失真；检波器交流