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计算机组成原理实验 课程实验 北京邮电大学 计算机科学与技术学院实验中心 系统结构实验室 2009年3月 课程实验 TEC-5计算机组成原理实验系统 1 运算器组成实验 （3学时）； 2 双端口存储器原理实验 （3学时）； 3 数据通路组成实验 （3学时）； 4 微程序控制器组成实验 （3学时）； 5 CPU组成和机器指令执行实验（4学时）； 实验系统简介 控制台； 数据通路； 控制器； 用户自选器件试验区； 时序电路； 电源部分； 实验系统简介 实验系统简介 数据通路总体框图 时序发生器 时钟源，时序脉冲产生和译码电路，时序启停逻辑等 ； 提供CPU周期所需的时序信号，取指并执行指令。 提供500KHz、50KHz、5KHz固定时钟； 提供数据通路和控制器各寄存器所需的节拍脉冲信号T1、T2、T3、T4； W1、W2、W3位节拍电位信号供硬连线控制器使用。 时序发生器 单拍：DP=1，DB=0，TJ=0按下QD按钮产生一组T1-T4节拍脉冲信号后停机，停在T4 。 单步：DP=0，DB=1，TJ=0按下QD按钮产生一组W1~W3节拍电位信号后停机，停在W3。 连续：DP=0，DB=0，TJ=0按下QD按钮产生连续不断的节拍脉冲信号。 TJ=1时，可使连续脉冲停止，时序停在T4或W3。 时序发生器 基本时序波形 时序发生器 本实验设备设计：执行一条微指令需要4个节拍脉冲，利用单拍方式可完成一条微指令的操作。 硬连线控制器执行一条机器指令需要3个节拍电位。SKIP为空余W节拍的跳转信号。 逻辑测试笔 TTL/CMOS逻辑测试笔 测试TTL/CMOS逻辑高(H)低(L)电平； 测试连续脉冲( )； 单次脉冲计数器(D)； 逻辑测试笔使用说明 将黑色鱼夹接地(GND)，红色接被测设备的Vcc(+5V)电源。 本产品寻找故障的方法有两种：一种是先用逻辑笔检出关键信号（如时钟、起动、移位、复位）丢失的地方，根据被测设备的逻辑原理把故障缩小到一个较小的范围内，再对被怀疑的组件配合脉冲笔进行脉冲注入—响应测试，判断组件的好坏。另一种方法是先对某串电路进行脉冲注入—响应测试，看信号能否从始端送到终端，用同样方法检查每一串电路，直到把故障找出来。 逻辑测试笔使用说明 若需拆卸，先把电源插座上的螺帽旋下，然后旋开笔壳与探针即可维修。 注：①当测试TTL电路逻辑笔的开关拨到标有“TTL”的一侧，测试CMOS电路将开关拨到标有“CMOS”的一侧。 ②逻辑笔测试电平指标与TTL和CMOS标准相一致。 一 运算器组成实验 实验目的: 1.熟悉双端口通用寄存器堆的读写操作。 2.熟悉简单运算器的数据传送通路。 3.验证运算器74LS181的算术逻辑功能。 4.按给定数据，完成指定的算术、逻辑 运算。 电路框图 实验设备 TEC-5计算机组成原理实验系统1台； TDS1001数字存储示波器1台； 逻辑测试笔1支。 实验任务 1.按图要求,将运算器模块与实验台操作板上的线路进行连接。 2.用开关SW7~SW0向通用寄存器堆RF内的R0~R3寄存器置数。演示 然后读出R0~R3的内容，在数据总线DBUS上显示出来。 演示 4.将R0写入DR1，将R1写入DR2 ?。演示 3.验证ALU的正逻辑算术运算，演示 逻辑运算功能。演示 74LS181 ALU算数/逻辑运算功能表 实验要求 做好实验预习，掌握运算器的数据传输通路及其功能特性，熟悉实验中所用模拟开关的作用和使用方法。 写出实验报告，内容： 实验目的 实验任务的数据表格，控制信号模拟开关值，运算结果。 二 双端口存储器原理实验 实验目的： 了解双端口静态随机存储器IDT7132的工作特性及使用方法。 了解半导体存储器怎样存储和读出数据。 了解双端口存储器怎样并行读写，产生冲突的情况如何。 电路框图 实验设备 TEC-5计算机组成原理实验系统1台； TDS1001数字存储示波器1台； 逻辑测试笔1支。 实验任务 （1）按电路图将有关信号和二进制开关对应接好，接通电源。 （2）将数码开关SW7~SW0设置为00H，将此数据作为地址置入AR；然后重新设置二进制开关控制，将数码开关SW7~SW0上的数据00H写入RAM中。演示 依此方法，向存储器的10H、20H 、 30H 、 40H单元写入10H、20H 、 30H 、 40H。 （3）使用双端口存储器的左端口，依次读出RAM第00H，10H，20H，30H，40H单元中的内容 。演示 实验任务 观察上述各单元中的内容是否正确。注意：总线上禁止两个以上部件同时向总线输出数据。当存储器进行读出操作时，必须关闭SW-BUS三态门！当向AR送入地址时，双端口存储器不能被选中。 （4）通过双端口存储器的右端口，读出