扫描穿隧式显微镜试验experimentswithscanningtunneling.pdf

掃描穿隧式顯微鏡實驗 Experiments with Scanning Tunneling Microscope 實驗目的 掃描穿隧電流顯微鏡之成像原理乃利用量子物理之穿隧效應，而穿隧效應產生之尺度為 十奈米以下的距離。本實驗藉由操作顯微鏡，讓學生手動控制探針與樣品接近到奈米距 離，觀察穿隧電流，再利用固定穿隧電流來固定探針與樣品高度，經由壓電材料與外加 電壓，控制探針在樣品表面來回掃描，並取得奈米級的表面圖像。所使用的樣品包括 700 奈米週期的溝槽、幾十奈米直徑的金顆粒與幾奈米高度的石墨台階，學生可先用光學顯 微鏡觀察樣品，來感受奈米級顯微鏡的高解析度。 掃描穿隧式顯微鏡之源起 Dr. G. Binnig 、Dr. H. Rohrer 與 Dr. Ch. Gerber 於 1980 年代初期，在 IBM 瑞士 Zurich 實驗室，利用金屬探針，其尖端用球體近似下之曲率直徑約 10-100 nm ，距離平整表面 約 1 nm下，經由外加偏壓產生穿隧電流效應，藉由保持金屬探針與樣品表面間的穿隧 電流，而發展出「掃描穿隧電流顯微鏡」 (scanning tunneling microscope, STM) 。此技 術被用來觀察樣品表面之微奈米結構，晶體表面之重構、原子結構與表面電子密度分佈 情形。 STM取得樣品表面三度空間形貌之原理，在於利用穿隧電流所提供之回饋訊號，維持 探針在表面上約 1 nm的距離，再由控制掃描器水平 (XY軸 )方向之位移，並取得掃描器 垂直(Z軸 )方向之距離。探針沿樣品表面高低起伏前進時，探針與樣品間距離保持固定。 掃描過程所紀錄之掃描器水平方向與垂直方向三個位移數值，來描繪樣品表面形貌。(參 照圖一 ) 圖一 .探針與樣品表面示意圖 Nanovie STM Educa 1/15 穿隧效應原理 在古典力學中，當一運動之粒子能量 E低於位能障 U時，粒子穿越此位能障的機率為 零，沒有任何越過能障之機會。1923 年德布羅依(de Broglie) 提出物質波 (matter waver) 假說，假設一個以能量 E ，動量p 運動之微觀粒子，在運動過程中，展現出以波長 λ 、 頻率 v之波動特性，稱為物質波。此粒子之波動與動量及能量間的關係式為： h p λ 2 p E 2m −34 × 6.63h ⋅ 10 J S 其中 h 為浦朗克常數(Plancks constant, ) ，m 為微小粒子之質量。 薛丁格 (Schrödinger)於 1925 年運用德布羅依之物質波假設，提出薛丁格波動方程式， 用以描述粒子之波動行為，薛丁格波動方程式為： h2 2 ∂