te薄膜封装层对有机电致发光器件寿命的影响 influence of te thin film encapsulation layer on lifetime of oleds.pdfVIP

第3期 微细Jj口-r技术 No．3 2008年6月 MICROFABRICATIONTECHNOLOGY Jun．。2008 文章编号：1003．8213(2008)03—0018．03 Te薄膜封装层对有机电致发光器件寿命的影响 李欣1，张方辉1，王秀峰1，张志刚2，张宏科3 (1．陕西科技大学，陕西西安710021；2．彩虹集团，陕西咸阳712021； 3．西安瑞联近代电子材料有限责任公司，陕西西安710065) diode)器件的保护层，以达到延长器件 摘要：采用Te薄膜封装层作为OLED(organielightemitting X 使用寿命的目的。在高真空(3 10-4Pa)条件下，利用真空蒸镀的方法，在绿光OLED多层器件各 功能层蒸镀完成后，又在阴极的外面蒸镀了一层Te薄膜封装层，然后再按一般的方法进行封装。 对比了一般封装与增加Te薄膜封装层后器件的性能，封装过程均未加干燥剂。研究发现，未加Te 880 800h。由此可 薄膜封装层器件的半衰期为2 h，增加Te薄膜封装层后器件的半衰期接近5 见，Te薄膜封装层的增加将使器件的寿命延长两倍多。并且所增加的Te薄膜封装层基本不影响 器件的电流一电压特性、亮度一电压特性、色坐标等光电性能。 关键词：OLED；薄膜封装；寿命 中图分类号：TN383+．1文献标识码：A 寿命的途径之一。本文研究了高真空条件下蒸镀Te 1 引言 薄膜封装层对OLED器件发光性能及寿命的影响。 作为全同化显示器件，OLED的最大优越性是2 实验 能够与塑料晶体管技术相结合实现柔性显示，应用 前景非常诱人，因此吸引了全球众多研究机构和企 本研究中所制备的器件结构为ITO／CuPc／ 业参与其研发和产业化¨．2J。但是OLED的寿命却 不足以大规模应用，其实用化要求更进一步提高其 分别对器件的电流特性一电压、亮度．电压特性、发光 可靠性及寿命，使得研究提高期间寿命的方法变得 效率．电流密度特性及发光光谱特性进行了测试与 非常有意义的。 讨论。这里CuPc(copper 影响OLED器件寿命的冈素有两个：一是所选 用的有机材料，二是器件的封装。如果器件封装不 aluminium 好，有机材料就会与水蒸汽、氧气等气体发生反应， 是绿光掺杂材料，LiF(1ithiumfluoride)是电子注入层。 2．1基板处理 导致器件失效…3，降低OI．ED器件的寿命【4I。因而， 有效抑制OLED在长期工作过程中的退化和失效， 在专用玻璃基板上，刻蚀所需的ITO图形作为 以使稳定工作达到足够的寿命，这对封装材料的阻 阳极，其面电阻为10Q／口一15彤口。ITO导电玻 隔性提出了极高的要求bJ，而起密封保护作用的封 璃先用清洗剂反复清洗，再依次用丙酮、酒精和去离 装技术就成了解决OLED器件寿命问题的一个突破子水超声清洗，烘干后将基片放入离子轰击室进行 点。依靠对氧气和水汽的高阻隔性，确保OLED在轰击，对ITO面进行活化补氧，以提高其表面的平整 保存和使用过程中的可靠性，是一条延长稳定性与 度和ITO的功函数。离子轰击是在16Pa左右的纯 收稿日期：2007．10—18；修订日期：2007．10．31 基金项目：陕西省专利产业化项目(2005ZZ．04)；陕西省教育厅产业化项目(06JC23) 作者简