电子测量技术第10章.ppt

6．计数触发 采用计数的方法，当计数值达到预置值时才产生触发。 7．毛刺触发 毛刺触发是利用滤波器从信号中取出一定宽度的干扰脉冲作为触发信号，然后存储毛刺出现前后的数据流，以利于观察和寻找由于外界干扰而引起的数字电路误动作的现象和原因。 10.3.4 逻辑分析仪的显示方式 1．状态表显示 状态表显示是采用各种数制以表格形式显示状态信息。通常用十六进制数显示地址和数据总线上的信息，用二进制数显示控制总线和其他电路接点上的信息，如表10.3所示。适用于软件调试。 2．反汇编显示 多数逻辑分析仪都具有反汇编功能，把总线上出现的数据翻译成各种微处理器的汇编语言源程序。 3．定时图显示 定时图显示把已存入存储器内的数据按时间变化的伪波形显示出来，它以逻辑电平表示波形图。图10.7为三-八译码器输出信号的定时图，对应存储的第一个有效数字 图10.7 3-8译码器的定时显示图 4．图解显示 图解显示是利用D/A转换器，将要显示的数字量转化成模拟量，以类似于示波器的X-Y模式显示，X轴表示数据出现的实际顺序，Y轴表示数据通道的模拟数值，刻度可由用户设定，但是它形成的是图像点阵。 图10.8显示的是一个简单的BCD十进制计数器的工作波形。图10.9显示程序的执行情况。 图10.8 数据序列的图解显示 图10.9 程序执行的图解显示 5．影射图显示 影射图显示把每个数据与屏幕上的每个光点联系起来。如果数据是8位，则可把屏幕左上角的光点用“00”表示，右下角的光点用“FFH”表示，其他光点按从左到右、从上到下、由小到大的规律分布在屏幕上。如图10.10显示的是六个数据的影射图。 图10.10 数据的影射图 6．分解模块显示 高层次的逻辑分析仪可设置多个显示模式。如将一个屏幕分成两个窗口显示，上窗口显示该处理器在同一时刻的定时图；下窗口显示经反汇编后的微处理器的汇编语言源程序。由于上、下两个窗口的图形在时间上是相关的，因而对电路的定时和程序的执行可同时进行观察，软硬件可同时调试。 10.3.5 逻辑分析仪的基本应用 1．逻辑分析仪的面板图和主要控键 典型逻辑定时仪面板如图10.12所示。 2．数字系统软件测试 主要是跟踪数据流，有选择地捕获有效数据，即如何设置正确的触发字和触发方式，建立合适的数据显示窗口。 3．微处理器测试 逻辑分析仪具有多个输入通道，可同时将微处理器的数据总线、地址总线和控制总线的信息进行采集、显示，从而得出其定时关系。 4．测试数字集成电路 将数字集成电路接入逻辑分析仪中，通过选择适当的显示方式，得到具有一定规律的图形。如果显示不正常，可以通过显示过程中不正确的图形，找出逻辑错误的位置。 5．数字系统故障诊断 一般在对数字系统进行检测和故障诊断时，可以利用图像显示快速而全面地检测数字系统的概况，用状态表寻找小故障区域，最后用定时图对故障准确定位。 10.4.1 项目内容 单片机系统规模较小，本身不具备自我开发和测试能力，正确选择和设计单片机系统，判断其工作性能是设计开发前的一项重要工作，采用简易逻辑测试设备、逻辑分析仪等仪器，对单片机最小系统的功能进行测试，并对其配置和性能做出评价。 10.4.2 项目相关知识点提示 10.4 项目8 单片机最小系统的性能测试 1．单片机最小系统性能的判定 主要项目包括： （1）单片机系统是否具有适应性。主要指所选用的单片机能否完成应用系统的控制任务，或通过增加一些外围集成电路能够完成系统任务。 （2）单片机的CPU是否具有合适的处理能力。主要表现在CPU的位数、运行速度、指令功能、指令周期的长短、中断能力以及堆栈大小等指标。 （3）单片机是否具有系统所需的I/O端口数。 （4）单片机是否具有系统所需的的中断源和定时器。 （5）单片机是否具有系统所需的外围接口。 （6）单片机的极限性是否满足要求。 * 第10章 数据域测试技术 数据域测试技术中被测系统的信息载体主要是二进制数据流。 数据域测试技术主要解决数字设备、计算机及LSI、VLSI电路在研制、生产和检修中的测试问题。 10.1 概述 10.1.1 数据域测试的基本概念 1．数据域测试特点 (1)被测信号持续时间短。 (2)被测信号故障定位难。 (3)被测信号的非周期性。 (4)信息传递方式多样化。 (5)外部测试点少。 2．数据域测试主要目标 数据域测试的目标有两个，一是确定系统中是否存在故障，称为合格/失效测试，或称故障检测；二是确定故障的位置，称为故障定位。 3．数据域测试的方法 对数字系统进行测试的基本做法是：在输入端加激励信号，观察由此产生的输出响应，并与预期的正确结果进行比较，一致则表示系统正常；