仪器简介及使用方式和费用.docVIP

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仪器简介及使用方式和费用

仪器简介 · 电子探针仪(JCXA-733) · 显微激光拉曼光谱仪 · 表面热离子同位素比值质谱仪 · 透射电子显微镜 · 等离子体光质谱仪 · 气相色谱-质谱联用仪 · 气体稳定同位素比值质谱仪 · 气相色谱-热转换同位素比值质谱仪 · 扫描电子显微镜 · 裂变径迹仪 · 彩色宽幅扫描仪 · 红外-微热显微镜 · 高温流变仪 · 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪 · 热电离同位素质谱仪 · x-射线衍射仪 · 同位素超净实验室 · 环境扫描电子显微镜 · 电子探针(JXA-8100) · LIRIS 3D 扫描仪 1.电子探针仪(JCXA-733) 信息来源:GPMR 发布时间:7/3/2007 11:13:00 AM ? ? 仪器名称:电子探针仪 ? 型号:JCXA-733 ? 生产厂家:日本电子公司 ? 主要技术指标: 1.元素探测范围:5B-92U,定量分析总量误差3%以内,主元素相对双差≤5%,探测极限 ? 10-5-10-3,绝对感量10-10g—10-5g. ? 图像分辨率:10—20nm,图像放大倍数40X-360000X,放大倍数误差≤10%. ? 2.定性分析:鉴定样品中含有哪些元素.可探测元素5B-92U.一般性方法检出限 ? 为10-4-10-2,在特别确认某一元素的存在时检出限为10-5-10-3,绝对感量10-16g-10-15g. ? 3.定量分析:测定样品中各元素的浓度.主要分析元素为11Na-92U.总量误差≤±3%, ? 主元素相对双差≤5%,含量为1%-5%的元素相对双差≤10%,含量0.3%-1%的元素相对双差≤20%. ? 4.半定量分析:包括轻元素分析、无标样分析,粗糙样品分析,薄样品分析或其它未经严格校正或不满足定量分析条件样品的分析. ? 元素范围5B-92U.总量误差、准确度、定量分析. ? 5. 图像观察:包括二次电子像,背散射电子成分像,背散射电子形貌像X线元素面分布,线扫描像,荧光像.放大倍数范围:40X-36,000X,放大倍数误差≤10%;二次电子像分辨率10-20nm. ? 6. 加速电压:10~25KV ? 7. 灯 丝:钨灯丝 8. 探针直径:2μ ? ? 主要应用范围,可开展的研究项目: 仪器广泛用于地质、冶金、化工、玻璃、陶瓷、金属、半导体、新型材料、生物、医学、考古、刑侦、国防等领域是现代科学研究不可缺少的主要手段之一. ? 在科研方面,电子探针可应用于基础地质的矿物学、岩石学、古生物学、矿床学、构造地质学、石油地质学、环境地质学、工程地质学、材料科学、应用化学及分析化学等多个学科的研究工作,可直观的给出样品的成分和观察和分析微细的形态、大小及表面微细结构、岩石矿石的结构构造及矿物组合,为基础地质学提供依据;的提供重要的依据. 2.显微激光拉曼光谱仪 信息来源:GPMR 发布时间:12/25/2006 10:59:00 AM ? 仪器名称:显微激光拉曼光谱仪 型号:RM-1000型 生产厂家:英国Renishaw公司 主要技术指标: 灵敏度:单晶硅一级峰 He—Ne(632.8nm)25 mw,狭缝50μm计数大于3000, Ar+(514.5 nm)20 mw,狭缝50μm计数大于1500 能测出单晶硅的二级峰 分辨率: Ar+(514.5 nm),狭缝~15μm时单晶硅一级峰半高宽小于2.4 cm-1 He—Ne(632.8nm),狭缝~15μm时单晶硅一级峰半高宽小于2.0 cm-1 稳定性:多次检测单晶硅一级峰位移误差优于±1cm-1 主要附件:LINKAM TMS 93 型显冷热台(-194℃~600℃) Linkam TH600高倍显微镜与冷热台 莱兹1350型高温热台 主要应用范围,可开展的研究项目: 地球科学 :物相鉴定及分子结构研究,单个流体包裹体成分及物理化学参数测试 环境科学 :样品中有害物质及含量的检测 材料科学 :材料的内部结构和表面性质研究 考古和宝石学 :宝玉石与文物的鉴定及研究 物证鉴定 :毒品、爆炸物、油漆和颜料、枪击残留物以及书写材料等的检测鉴定 技术监督 :真假产品的鉴定 生物工程 :生物细胞核、细胞质成分结构分析 医 药 :新药研制中有效成分的分析 3.表面热离子同位素比值质谱仪 信息来源:GPMR 发布时间:12/25/2006 10:48:00 AM ? 仪器名称:表面热电离同位素比值质谱仪 型号:可调多接收MAT261 生产厂家:Finingan MAT,德国 主要技术指标::高精度重元素(Mass23)同位素比值分析,相对误差1/万-1/10万 主要应用范围、可开展的研究项目:从

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