基于msp430的微电阻测试仪的设计整理.pdfVIP

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2017-09-03 发布于湖北
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基于msp430的微电阻测试仪的设计整理.pdf

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传感器与微系统（）年第卷第期　　　　　　　　ＴｒａｎｓｄｕｃｅｒａｎｄＭｉｃｒｏｓｙｓｔｅｍＴｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ　　　　　　　　　２０１７３６６１１２ — — — ＤＯＩ：１０．１３８７３／Ｊ．１０００９７８７（２０１７）０６０１１２０２基于ＭＳＰ４３０的微电阻测试仪的设计张安莉，谢檬，王娟　　（西安交通大学城市学院，陕西西安７１００１８）摘　要：传统测量微电阻的方法操作繁琐，且引线电阻和触点电阻对测量结果影响较大。本文设计的基于交流恒流源激励的微电阻测试仪由交流激励源、数字移相电路、信号调理电路以及Ａ／Ｄ转换与显示电路等四部分组成。微电阻由交流激励源注入交流信号后通过高阻低噪声运算放大器ＡＤ６２０提取响应信号，再经过锁相放大电路测得其真实的响应电压，锁定后的信号克服了内部噪声和外部电磁干扰的影响，能够实现对微小电阻的准确测量。通过对样机的测试和比对标称值，该测试仪工作稳定，具有较高的测量准确度，方便携带和使用。关键词：信号处理；微电阻测量；ＡＤ６３０锁相环；低功耗 — — — 中图分类号：ＴＰ２１６　　　文献标识码：Ａ　　　文章编号：１０００９７８７（２０１７）０６０１１２０２ＤｅｓｉｇｎｏｆｍｉｃｒｏｒｅｓｉｓｔａｎｃｅｔｅｓｔｉｎｇｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｂａｓｅｄｏｎＭＳＰ４３０，，ＺＨＡＮＧＡｎｌｉＸＩＥＭｅｎｇＷＡＮＧＪｕａｎ（Ｘｉ’ａｎＪｉａｏｔｏｎｇＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙＣｉｔｙＣｏｌｌｅｇｅ，Ｘｉ’ａｎ７１００１８，Ｃｈｉｎａ）：，ＡｂｓｔｒａｃｔＯｐｅｒａｔｉｏｎｏｆｔｒａｄｉｔｉｏｎａｌｍｅｔｈｏｄｓｏｆｍｉｃｒｏｒｅｓｉｓｔａｎｃｅｍｅａｓｕｒｉｎｇａｒｅｃｏｍｐｌｉｃａｔｅｄａｎｄｉｔｈａｓｇｒｅａｔｉｎｆｌｕｅｎｃｅｏｎｒｅｓｕｌｔｏｆｔｈｅｍｉｃｒｏｒｅｓｉｓｔａｎｃｅｔｅｓｔｉｎｇ．ＴｈｅｄｅｓｉｇｎｅｄｍｉｃｒｏｔｅｓｔｅｒＡＣｃｏｎｓｔａｎｔｃｕｒｒｅｎｔｓｏｕｒｃｅｅｘｃｉｔａｔｉｏｎｂａｓｅｄｏｎｔｈｅｔｅｓｔｅｒｂｙＡＣｅｘｃｉｔａｔｉｏｎｓｏｕｒｃｅ，ｄｉｇｉｔａｌｐｈａｓｅｓｈｉｆｔｅｒｃｉｒｃｕｉｔ，ｓｉｇｎａｌｃｏｎｄｉｔｉｏｎｉｎｇｃｉｒｃｕｉｔａｎｄＡ／Ｄｃｏｎｖｅｒｓｉｏｎａｎｄｄｉｓｐｌａｙｃｉｒｃｕｉｔｉｓｃｏｍｐｏｓｅｄｏｆｆｏｕｒｐａｒｔｓ．ＭｉｃｒｏｒｅｓｉｓｔａｎｃｅｂｙＡＣｅｘｃｉｔａｔｉｏｎｓｏｕｒｃｅｉｎｔｏＡＣｓｉｇｎａｌｔｈｒｏｕｇｈｈｉｇｈｉｍｐｅｄａｎｃｅｌｏｗｎｏｉｓｅａｍｐｌｉｆｉｅｒＡＤ６２０ｔｏｅｘｔｒａｃｔｔｈｅｒｅｓｐｏｎｓｅｓｉｇｎａｌ，ａｎｄｔｈｅｎａｆｔｅｒＡＤ６３０ｐｈａｓｅ ｌｏｃｋｅｄａｍｐｌｉｆｉｅｒｃｉｒｃｕｉｔｗｈｉｃｈｍｅａｓｕｒｅｄｔｈｅｔｒｕｅｒｅｓｐｏｎｓｅｖｏｌｔａｇｅ