集成电路测试员鉴定试题(三级)_Partly_Result.pdfVIP

一、填空题。得分： 答题说明：请将正确答案的选项填写在相应括号中，每空2 分，共30 分，多选、错选均不得分。 1、集成电路即“IC ”，俗称 “芯片”，按功能不同可分为 数字 集成电路和 模拟 集成电路。按导 电类型可分为 双极 型集成电路和 单极 型集成电路，前者频率特性好，但功耗较大，而且制作 工艺复杂，不利于大规模集成；后者工作速度低，但输人阻抗高、功耗小、制作工艺简单、 于 大规模集成。 2 、按照所要达到的目的，可以将集成电路测试分为4 类： ， ， ，入场测试。 3、DFT 测试的方法包括内部扫描测试、边界扫描测试、内建自测试和静态电流测试。 4 、FA 是 失效分析 的缩写。 5、直流参数测试包括 ， ， ，泄漏测试，输出驱动电流测试， 等。 二、不定项选择题。得分： 答题说明：请将正确答案的选项填写在相应括号中，每题3 分，共30 分。全正确得满分，多选、 错选均不得分，少选得1 分。 6、无论是否登记或者投入商业利用，集成电路布图设计自创作完成之日起 年后，不再受《集 成电路布图设计保护条例》保护。（ ） A 、10 年 B 、15 年