离子晶体结构下表.PPT

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离子晶体结构下表

* 1.离子键及典型离子化合物 离子键没有方向性和饱和性,它向空间各方向发展,形成离子键。 离子键中正负离子采取密堆积方式,正负离子可看成不等径圆球,正负离子各与尽可能多的异号离子接触,使体积能量尽可能的低。 离子晶体的结构多样而复杂,但复杂离子晶体的结构一般都是典型的简单结构型式的变形。 离子晶体结构下表: (4个) 立方F 立方 立方 B A (4个) 立方F 立方 (2个) 六方 六方 六方 (1个) 立方P 立方 点群 分数坐标 配位比 结构基元 点阵 晶 系 晶体 构型 几种 型及 型晶体构型 几种 型及 型晶体构型 B A 立方F 立方 四方P 四方 金红石 点群 分数坐标 配位比 结构基元 点阵 晶 系 晶体 构型 (4个) 2个 (1个) 晶胞 型 型 立方 型 六方 型 2.离子键理论 点阵能就是晶格能,是用来衡量离子晶体中离子键的强度的。 (1)点阵能 点阵能越大,离子键强度越强,晶体越稳定 如: (气) (气) (晶) 即为 晶体的晶格能 2.离子键理论 (1)点阵能 (晶体) (气) (气) 对 型离子晶 体: 由库仑定律可知: 2.离子键理论 (1)点阵能 (气) (气) (晶体) 对于 型晶体: 2.离子键理论 (2)离子的极化和键型变异 实际晶体中,单纯的离子键很少。而多数晶体往往是几种键型兼而有之,因此会产生离子极化和键型的变异, 离子极化 晶体化学定律 键型变异现象 离子极化 离子所带电荷越多,其作用力也越大;一般与 成正比。 含 电子的离子,比一般离子的极化力强。 离子在外电场作用下,产生诱导极矩 , 。 叫诱导极化率(即离子在单位电场强度的电场作用下 产生的诱导偶极矩)它的大小,是离子可极化的量度。 同价离子的半径越大,和与此相联系的负离子价数 越高,正离子价数越低,极化率和可极化性越大。 键型变异现象 键型变异现象:极化力强和变形性大的离子之间,特别 是含 电子的正离子(如: ),与极化率大 的负离子(如: )之间,产生较大的相互极 化, 导致离子键向共价键过渡,这种现象称为键型变异现象。 使得键能和点阵能增大, 使键长也相应地比离子键长 的理论值逐渐缩短。 产生配位数降低的效应 晶体化学定律 哥希密特晶体化学定律: 晶体的结构型式,取决与其结构基元(原子、离子、原子团)的数量关系、离子的大小关系和极化作用的性质。 影响结构型式的三个主要因素 晶体的化学组成类型 结构基元的相对大小 结构基元的极化作用 类质同晶现象 同质多晶现象 类质同晶现象 指化学式相似的物质,具有相似的晶体外形。具有同 晶现象的各物质叫做同晶体。 具有相同的结构类型,从而有相似的晶体外形 产生原因 具有相同的化学组成(或化学式)类型 相应离子的半径相近或离子半径比相近 同质多晶现象 同一种化学组成的物质,可以形成多种晶体结构类型的变体。 主要原因 同一物质在不同温度等条件下,产生的同质多晶变体 化学组成类型和离子 半径比一定,决定了正、负离子有一定的配位数。在此前提下,负离子可以有不同的密堆积方式,从而有不同的晶体结构类型。 2.离子键理论 (3)离子半径 离子半径是指离子在晶体中的“接触”半径,即离子键 的键长是相邻正、负离子的半径和。 但离子并非刚性球,同一离子在不同晶体形型式中表现 “接触”半径也有不同。一般所说的离子半径,是以 型离子晶体为标准的数值。具体情况见下表: 一些 型晶体的点阵常数 5.68 5.21 5.19 4.80 4.44 4.21 晶体 c c a或b a b a c 负离子 正离子 2.离子键理论 3.复杂离子化合物及其结构简介 (1)离子配位多面体和泡令规则 第一规则:在每个正离子的周围,形成了负离子的配位多面体,正、负离子的距离取决于半径之和,正离子的配位数取决于半径比。 第二规则——静电规则:在稳定的离子结构中,每个负 离子的电价数,等于或近乎等于这个负离子与其邻近正离子 之间各静电强度的总和。即公用同一顶点的配位多面体的数 目。 第三规则:在一个配位结构中,公用棱边,特别是公用 平面,会使结构的稳定性降低;正离子的

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