TD-LTE RRU可靠性测试规范v3.0.pdf

中 国 移 动 通 信 企 业 标 准 QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳ T D - LT E R R U 设备可靠性及环境适 应性测试规范 版 本号 ： V3.0 ╳╳╳╳ -╳╳ -╳╳发布 ╳╳╳╳ -╳╳ -╳╳实施 中国移动通信集团公司 发布 目 录 1 概述 3 1.1 测试目的 3 1.2 测试仪表、工具、测试软件 3 1.3 测试配置 3 1.4 主要测试指标和测试方法 4 1.4.1 最大输出功率 5 1.4.2 ACLR 5 1.4.3 频率误差 6 1.4.4 EVM 6 1.4.5 参考灵敏度 7 2 RRU 环境试验方法 8 2.1 Office 振动试验 8 2.2 RRU 高低温工作循环试验 9 2.3 RRU 交变湿热试验 11 2.4 RRU 裹冰试验 13 2.5 RRU 盐雾试验 14 2.6 RRU 风吹雨试验 15 2.7 RRU 霉菌试验 17 3 测试顺序说明 18 4 抱杆及安装说明 19 1 概述 1.1 测试目的 本测试目的是评估 TD-LTE RRU 的在室外环境运行下的可靠性及环境适应性，验证RRU 在实际环境中的工作能力，包含的主要测试包括：  振动测试  高低温循环试验  交变湿热  盐雾试验  风吹雨试验  裹冰测试 （只针对具有盲插接口设备）  霉菌试验 （不统一组织，由厂家提供在有资质的测试场地完成的测试报告） 1.2 测试仪表、工具、测试软件 测试仪表 用途及说明 TD-LTE 信号源 测试RRU 上行吞吐量 安捷伦4438C 或RS SMU200, 选件K55 （1 台） 矢量频谱分析仪 测试RRU 发射指标 (最大输出功率、EVM, ACLR,和频率误差) Agilent MXA N9020A 加B25 、513、P03 以及N9080A-1FP 选件 （1 台）； RS FSG13 ，LTE 测量选件K102/B25/ K104/ K105 （1 台） TD-LTE 天线耦合 连接RRU 支持RRU 校准功能，仅8 通道RRU 测试使用 盘 射频开关 安捷伦3499C+N2276A 环行器 连接Switch Box 和射频仪表（信号源和频谱仪） 30dB 衰减器 连接合路器和仪表 1.3 测试配置 下图表示了采用自动化测试时RRU 设备的连接图，图中的开关矩阵仅在测试2/8 通道 RRU 时使用，天线耦合盘仅在8 通道RRU 测试时使用，图中其他部件的介绍如下： 1) 如果被测RRU 为8 通道时，需要把其输出接到耦合盘上，对耦合盘校准输出端口（即 耦合口）的信号进行测试； 2) 待测单元和仪表间用射频开关箱swtichbox 相连，用于选择被测设备及通道； 3) 射频开关箱与测试仪表间需用环行器相连，避免RRU 下行输出对信号源的影响； 4) 基站参数由各厂商BBU 进行配置； 5) PC 控制端内装自动测试程序CMCC-TD-RRUTester ，可控制仪表对基站进行射频指标测 试； 6) 用自动化测试软件进行eNode B 上行吞吐量统计。 7) 可靠性测试过程中上下行时隙配比均为3/8 配置。 1.4 主要测试指标和测试方法