测试技术第2版教案.docx

光学显微镜:分辨率200nm 放大倍数约1000倍 观察尺寸级别为10的平方nm 观察不到位错和原子排列化学分析：得到样品的平均成分，却不可知所含元素分布情况（淬火刚中未溶碳化物附近的高碳区形成硬脆的片状马氏体，含碳量较低的区域形成强而韧的板条马氏体）X射线 （XRD） 毫米数量级（看不到微米及纳米级）分析材料晶体结构、晶格参数、晶体缺陷、不同结构相含量、内应力电子显微镜（EM）：（1）TEM 投射电子显微镜 分辨率0.1nm 放大倍数10的6次方倍 样品内部组织结构与形态 晶体结构鉴定 （2）SEM 扫描电子显微镜 分辨率1nm 放大倍数2乘10的5次方倍 表面形貌（断口）、表面成分分布情况 （3）EPMA 电子探针 扫描电镜与电子探针相结合 观察微观形貌同时进行化学成分分析 （4）STEM 扫描透镜 （三位一体）围观区域组织形貌观察、晶体结构鉴定、化学成分分析X射线本质：属电磁波或电磁辐射 同时具有波动性和粒子性 波粒二象性可见光波长 390-760nm X射线波长范围 0.01-10nm用于衍射分析 0.05-0.25nm 用于金属探伤 0.005-0.1nm 描述X射线的频率 、波长与参量能量、动量关系 关系式X射线强度（用波动性定义）：单位时间内通过垂直于传播方向的单位截面上的能量的大小 I由光子能量和粒子数目两个因素决定 强度与波振幅A的平方成正比X射线的波动性：反映在一物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射过程 粒子性：表现在与物质相互作用和能量交换的时候X射线的产生及X射线管：高速运动着的带电或不带电粒子与某种相撞击且与该物质中的内层电子相作用而产生的X射线产生的基本条件：产生自由电子、使电子做定向高速运动、在电子的运动路径上设置使其突然减速的障碍物阴极：发射电子（钨丝）阳极：靶，使电子减速并发射X射线（常用靶材Cr Fe Co Ni Cu Mo Ag W 软X射线：Al靶）窗口：X射线射出通道（材料：金属铍 硼酸铍锂（林德曼玻璃））理想状态：较小焦点-提升分辨率；较强X射线强度-缩短曝光时间连续X射线谱：产生的两种解释：（1）经典电动力学：一个高速运动的电子到达靶面上时，因突然减速产生很大的负加速度，这种负加速度一定会引起周围电磁场的急剧变化，产生电磁波 （2）量子理论：当能量为eu的电子与靶的原子整体相碰撞时，电子失去自己的能量，其中一部分以光子的形式辐射出去，而每碰撞一次产生一个能量为hv 的光子光子能量极限情况 关系式X管射线连续x射线的效率 连续x射线总强度/X管功率K l m eUk=Wk(逸出功) Uk为临界激发电压K层电子被击出—k系激发---引起的电子跃迁---k系辐射问：为什么Ka线比Kb线的波长长而强度高？不仅各能及能量不同，各能及之间的能量差也是不一样的，越靠近原子核的相邻能及间能量差越大 前者能量差小于后者能量差 又能量差与波长成反比 所以…问：为什么Ka线比Kb线的强度大5倍左右？跃迁几率决定谱线强度，电子有l-k层跃迁的几率比从m-k层跃迁的几率大5倍左右特征x射线的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能及结构，而与其他外界因素无关莫塞莱定律：根号下频率=k（z-表他） 是x射线荧光光谱分析和电子探针微区成分分析的理论基础X射线与物质的相互作用：散射能量、吸收能量、透过物质X射线的散射：（1）相干散射：物质对x射线散射的实质是物质中的电子与x射线光子的相互作用，当入射光子碰撞电子后，若电子能牢固的保持在原来位置上，则光子将产生刚性碰撞，其作用效果是辐射出电磁波—散射波。这种散射波的波长和频率与入射波完全相同，新的散射波之间可以发生相互干涉（2）非相干散射：当X光量子冲击舒服较松的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子，该电子将被撞离远还行方向同时带走光子的一部分动能成为反冲电子，同时在a角度下产生一个新光子，由于入射光子一部分能量转化为电子的动能，因此能量较碰撞前要小，散射辐射的波长应比入射波长长，波长增量取决去散射角a散射相位与入射波相位之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的二次特征辐射：由x射线激发所产生的特征x射线为二次特征x射线或荧光x射线靶材料的选择（原子序数）当Z靶40时，则Z片=Z靶-1 Z靶=40时，则Z片=Z靶-2若试样的K系吸收限为 栏目他 k 应选择靶的Ka波长稍大于栏目他k Z靶=Z试样+1三：单包节点数数：N=Ni+Nf/2+Nc/8 晶向指数：化整 晶面指数：取倒数晶带定律：hu+kv+lw=0 属于（uvw）晶带的晶面指数（hkl）都符合定律立方晶系的面间距公式