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解释：核辐射探测器 辐射探测器是将入射射线的信息(能量、强度、种类等)转换成电信号或者其它易测量信号的转换器，，，，: ①利用射线通过物质产生的电离现象做成的辐射探测器，，，， ⑤利用射线对某些物质的核反应、或相互碰撞产生易于探测的次级粒子做成的探测器， ⑥利用其他原理做成的辐射探测器。 闪烁计数器由哪几个部分组成？答：闪烁计数器由闪烁体和光电倍增管等组成。 核辐射探测器输出的脉冲，其哪些参量与射线强弱、能量大小有着什么样的定性关系？ 入射射线强时，；，，，，，，，，， 闪烁体的发光时间越短，，，，，，，，，，；，，，，，，，，(探测效率是入射粒子通过探测器的灵敏体积时，能产生输出信号的概率) 常用的闪烁体有哪些？ (1)碘化钠(铊) (2)硫化锌(银)(3)碘化铯(铊)(4)碘化锂(铊)(5)液体闪烁体 为什么NaI(Tl)探测器具有很高的探测效率？ NaI(Tl)晶体是具有很大光输出的闪烁体，NaI(Tl)晶体的相对密度大，，85%(碘的原子序数为53)，NaI闪烁体可以做成很大的尺寸(体积在以上)，NaI(Tl)单晶十分透明，，，，，，，，，，，ZnS(Ag)晶体。其外不应有覆盖物，，，，，，，，， ①光电倍增管必须避光使用，，， ③闪烁体及光电倍增管均应避光保存。 ④光电倍增管及管座应该保持清洁干燥， ⑤工作时，磁场对光电倍增管有影响，气体探测器电离室、正比计数器和盖勒(G-M)计数器统称为气体探测器。电离室有两种类型一种是记录单个辐射粒子的脉冲电离室，主要用于测量重带电粒子的 另一种是记录大量辐射粒子平均效应的电流电离室和累计效应的累计电离室，主要用于测量X、γβ和中子的强度或通量、剂量或剂量率。它是剂量监测和反应堆控制的主要传感元件。气体探测器气体放大现象 气体放大现象，即被加速的原电 与电离室相比，正比计数器有优点(1)输出的脉冲幅度较大。(2)灵敏度较高。(3)脉幅度几乎与原电离的地点无关。G-M计数器探测射线具有优缺点G-M计数器探测射线具有以下优点(1)灵敏度高2)脉冲幅度大(3)稳定性高4)计数器的大小和几何形状可按探测粒子类型和要求在较大范围内变动5)使用方便、成本低廉、制作工艺和仪器电路简单 G-M计数器的主要缺点是：不能鉴别粒子的类型和能量；分辨时间长，约102，不能；有乱真计数。G-M计数管的坪曲线在强度不变的放射源照射下测量计数率随工作电称为坪曲线。曲线的特点是当工作时，计数率由零迅速增大；工作电G-M计数管注意事项前应大致了解该型号计数管性能严禁计数管发生连续放电情况，一发生应立即断掉探测射线不能太强，计数率不能过高(1)能量分辨率很高。2)可以制成高空间分辨和快时间响应的探测器。(3)测量电离辐射的能量时，线性范围宽。半导体探测器的主要缺点(1)对辐射损伤较灵敏，受强辐射后性能变差。(2)常用的锗探测器，需要在低温(液氮)条件下工作，甚至要求在低温下保存，使用不便 影响金硅面垒探测器能量分辨力的主要因素有哪些？ (1) 输出脉冲幅度的统计涨落: (2) 探测器和电子学噪声 由P-N结反向电流及表面漏电流的涨落造成； 电子学噪声主要由第一级FET构成，包括：零电容噪声和噪声斜率。噪声的表示方法：等效噪声电荷ENC. (3) 窗厚度的影响: 式中为单位窗厚度引起的能量损失. 总线宽为： 解释半导体探测器的辐射损伤效应。 半导体探测器受强辐射照射一段时间以后性能会逐渐变坏，，PIN探测器及名称由来。 60年代，P型和N型半导体之间，得到受主杂质浓度和施主杂质浓度平衡的高电阻率补偿材料区，，I(Intrinsic)表示，I区，，10mm以上。锂漂移探测器是P-I-N结构，PIN探测器。 解释内放大探测器名称由来及工作原理。 普通的半导体探测器只收集入射粒子在灵敏体积内产生的载流粒子，，，PN结探测器所加偏压足够高时，PN结的整个电荷区形成一定强度的电场，-电子对。这些次级载流粒子如果得到足够的能量就能再次产生电离…，这样一个级联过程会使初始的信号有一个显著的放大 什么是导体、绝缘体、半导体 (1)导体：存在满带、导带（部分填满，且存在许多空着的能级）所以可以从电场获得能量，经碰撞损失能量产生电荷宏观流动产生电流。 （2）绝缘体：存在满带、空带，禁带宽度大，在加电场下，满带电子由于填满不会获得能量跃迁到高能级，而导带虽有空能级但无电子因而不能产生电流，而不导电。 （3）半导体：存在满带、导带（为空），禁带宽度窄，在一定温度下满带里的电子会跃迁到导带这是满带既有空位且导带有电子，从而使晶体有了导电性。 什么是本征半导体、杂志半导体，N型半导体、P型半导体。 （1）本征半导体：理想、无杂质的半导体. 由于热运动而产生的载流子浓度称为本征载流子浓度，且导带中的电子数和价带中的空穴数严格相等。载