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【2017年整理】利用光学渡越辐射进行强流束诊断

 第 16 卷  第 9 期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol. 16 ,No. 9    2004 年 9 月 HIGH POWER LASER AND PARTICL E BEAMS Sep. ,2004   文章编号 :100124322 (2004) 0921215204 X 利用光学渡越辐射进行强流束诊断 1 ,2 2 1 2 2 杨国君 ,  刘承俊 ,  林郁正 ,  陈思富 ,  张 卓 ( 1. 清华大学 工程物理系 , 北京 100084 ;  2 . 中国工程物理研究院 流体物理研究所, 四川 绵阳 621900)   摘  要 :  描述了光学渡越辐射用于束流诊断的理论依据 ,介绍了利用光学渡越辐射对 18MeV ,2. 7kA 的 强流脉冲电子束进行诊断的实验方案。在解决了在强流束测量中强背景干扰等问题后 ,获得了光学渡越辐射 的特征图案 ,据此测量了强流脉冲束的剖面、能量、发散角和发射度。初步的实验结果表明 ,光学渡越辐射方法 是强流束诊断的一种有效手段。   关键词 :  光学渡越辐射 ;  束流诊断 ;  直线感应加速器 ;  束剖面 ;  发射度   中图分类号 :  O463. 1      文献标识码 :  A   当匀速运动的带电粒子通过介质交界面时 ,界面库仑场会改变 ,在库仑场重建的过程中 ,一部分能量辐射 ( 出来 ,这种辐射被称为渡越辐射。位于可见光波段的渡越辐射被称为光学渡越辐射 Optical Transition Radia2 tion ,O TR) 。1946 年 Ginzburg 从理论上预言了渡越辐射 ,从 1975 年开始用于束流诊断[1 ] ,近十多年来受到了 国际上各大加速器实验室的广泛关注。作为一种束流诊断工具 ,它具有空间分辨率高、时间响应快、多参数同 时测量、对束流影响小、装置简单等特点 ,能够测量束剖面、发散角、发射度、能量、束流的宏脉冲长度和微脉冲 长度等多个参数 ,因此在国外加速器领域得到了比较广泛的应用[1~3 ] 。   在国内 ,清华大学、中国工程物理研究院等单位在过去十年中曾经进行过这方面的研究[4~6 ] ,利用光学渡 越辐射测量了束剖面 ,结合磁分析器测量了能谱。但这些工作都是在弱流加速器上进行的 ,在流强达到几个 kA 的强流加速器上 ,产生了许多新的问题 ,例如 :可见光背景很强 ; X 射线背景严重干扰接收系统的正常工 作 ,并在图像上产生很强的噪声 ,甚至能完全淹没有用信息 ;转换靶的镀膜层容易被烧穿。为此 ,必须探讨克服 这些问题的方法。 ( )   利用光学渡越辐射的特征图案 包括单膜双峰图案和双膜干涉图案 ,一方面可以确认观察到的辐射是否 是光学渡越辐射 ,另一方面可以测量束流的能量和发散角 ,进而得到发射度 ,本文在这些方面做了探讨 ,并取得 了初步的实验结果。 1  诊断的理论依据   在束流诊断中 ,一般采用金属薄膜作为 O TR 的 辐射转换靶。束流穿过膜时 , 在膜的前后均会产生 O TR 光 ,如图 1 所示。其中前向光的主方向就是束流 传输的方向 ,后向光的主方向是束流在膜表面的反射 方向。比较方便的用法是把膜与束流成 45°放置 ,这 样就可以在束流的垂直方向进行观测。   渡越辐射具有偏振性。定义观测平面是带电粒子 的速度方向和渡越辐射的主方向所决定的平面 ,则观 测平面上的渡越辐射只有平行于观测平面的偏振分 量 ,不在观测平面上观测的渡越辐射既有平行分量 ,又

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