第11章 【薄膜、劈尖、牛顿环】习题课.ppt

* 相干光 分波阵面法 分振幅法 （杨氏双缝干涉） 薄膜干涉 劈尖干涉 牛顿环干涉 一.薄膜干涉 ① ② 有半波损失 加强 减弱 ② ① 减弱 二、劈尖干涉 加强 劈棱处出现明纹还是暗纹？ 暗纹 1 2 3 1 2 3 空气 减弱 1 2 3 加强 劈棱处出现明纹还是暗纹？ 明纹 3.测微小物体的厚度 1.相邻明（暗）纹间的厚度差 2.相邻明（暗）纹的间距 三、牛顿环干涉 ① ② 明环半径 暗环半径 空气 若平凸透镜与平玻璃之间充满折射率 介质： 1. 真空中波长为?的平行单色光垂直照射到薄膜上，经上下两表面反射的两束光发生干涉，若薄膜的厚度为 e，并且 n1n2n3, 则两束反射光在相遇点的相位差为多少？ 2. 平行单色光垂直照射到薄膜上，经上下两表面反射的两束光发生干涉，若薄膜的厚度为 e，并且 n1n2n3, ?1 为入射光在折射率为 n1 的介质中的波长，则两束反射光在相遇点的相位差为多少？ 真空中波长 如何验证对错？ 3.一束波长为?=600nm 的平行单色光垂直入射到折射率为n =1.33的透明薄膜上，该薄膜是放在空气中的。要使反射光得到最大限度的加强，薄膜的最小厚度是多少？ e 1 2 3 4.透镜表面通常覆盖着一层 MgF2的透明薄膜， 其折射率n=1.38（透镜的折射率大于1.38）。为使氦氖激光器发出的波长为 632.8nm 的激光毫不反射地透过，求薄膜厚度满足的关系及最小厚度。（设光线垂直入射） 最薄的膜厚取 k=0，则 e 1 2 3 5.在半导体元件生产中为了测定硅片上 薄膜的厚度，将该膜的一端腐蚀成劈形。已知 折射率为 1.46，用波长为 589.3nm 的平行光垂直照射后，观察到 劈尖上出现了9条暗纹，并且第9条暗纹在劈尖斜坡的上端点B, Si 折射率为 3.42 ,求 薄膜的厚度。 B 处第 9 条暗纹对应上式 SiO2膜 解： 思考：若 AB 段共有 9 条明纹，且 B 处恰好是一条明纹，求薄膜厚度。 6.两平板玻璃构成一空气劈尖，长L=4cm，一端夹住一金属丝。以波长为 ?=589.0 nm 的钠光垂直入射。 （1）若观察到相邻明（或暗）纹间距离l =0.1mm，求 金属丝的直径 d =？ 解：（1） 6.两平板玻璃构成一空气劈尖，长L=4cm，一端夹住一金属丝。以波长为 ?=589.0 nm 的钠光垂直入射。 （2）将金属丝通电，受热膨胀，直径增大。在此过程中，从 玻璃片上方离劈棱距离为 L/2 的固定观察点上发现干涉 条纹向左移动 2 条，问金属丝的直径膨胀了多少？ 解：（2)在劈尖中部干涉条纹向左移两个条纹， 说明在该处厚度增加: 7、 如图a所示，一光学平板玻璃A与待测工件B之间形成空气 劈尖，用波长l＝500 nm 的单色光垂直照射．看到的反射光的 干涉条纹如图b所示．有些条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条 纹的直线部分的连线相切．则工件的上表面缺陷是 (A) 不平处为凸起纹，最大高度为500 nm． (B) 不平处为凸起纹，最大高度为250 nm． (C) 不平处为凹槽，最大深度为500 nm． (D) 不平处为凹槽，最大深度为250 nm． ［B］ 空气劈尖： A B 图 b 图 a 8、用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为l的单色 平行光垂直入射时，若观察到的干涉条纹如图所示， 每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的 连线相切，则工件表面与条纹弯曲处对应的部分 凸起，且高度为l / 4． 凸起，且高度为l / 2． 凹陷，且深度为l / 2． 凹陷，且深度为l / 4． ［C］ 空气劈尖： 思考：折射率为n的介质劈尖呢？ 平玻璃 工件 空气劈尖 9、 两块平玻璃构成空气劈尖，左边为棱边，用单色平行 光垂直入射．若上面的平玻璃慢慢地向上平移，则干涉条纹 (A) 向棱边方向平移，条纹间隔变小． (B) 向棱边方向平移，条纹间隔变大． (C) 向棱边方向平移，条纹间隔不变．