课件常用信息检测系统.doc

常用信息检测系统 莫尔条纹具有如下特点 1 放大作用 用Bmm表示莫尔条纹的宽度P mm 表示栅距θ rad 为光栅线纹之间的夹角 莫尔条纹宽度B与θ角成反比θ越小放大倍数越大 2 均化误差作用 莫尔条纹是由光栅的大量刻线共同组成例如200条mm的光栅10mm宽的光栅就由2000条线纹组成这样栅距之间的固有相邻误差就被平均化了消除了栅距之间不均匀造成的误差 3 莫尔条纹的移动与栅距的移动成比例 当光栅尺移动一个栅距P 时莫尔条纹也刚好移动了一个条纹宽度B只要通过光电元件测出莫尔条纹的数目就可知道光栅移动了多少个栅距工作台移动的距离可以计算出来 2．光电直接探测在遥感方面的应用 3 光电直接探测在监测环境污染 方面的应用 52 光外差探测系统 53 光纤传感器检测系统 二光纤的特性 四光调制与解调技术 光调制就是将一个携带信息的信号叠加到载波光波上完成这一过程的器件称为调制器 调制器能使载波光波的参数随外加信号变化而变化这些参数包括光波的振幅位相频率偏振波长等承载信息的调制光波在光纤中传输再由光探测器系统解调然后检测出所需要的信息  1．强度调制与解调 原 理 利用光在微弯光纤中强度的衰减原理将光纤夹在两块具周期性波纹的微弯析构成的变形器中构成调制器从波导理论的观点来看当光纤发生弯曲时传输光会有一部分泄漏到包层中去这种泄漏是光纤内发生模式耦合的结果这些耦合模变为辐射模造成传播光能量的损耗 纤芯中的光向包层逸出的原因从几何光学来说是由于全反射条件的破坏造成的从波导理论来说则是光纤的弯曲引起了各种传导模式的耦合则形成耦合模式被送入包层中去产生辐射模 微 弯 调 制 示 意 图 实 际 测 量 框 图 利用这种调制技术可以直接测量位移的变化量 变形器上的变形板位移的大小决定光强的衰减程度 而间接测量的量则可包括温度压力振动应变等 脱 模 器 的 作 用 这里脱模器的作用是在进入探测器之前消除掉进入包层中的光以保证只有纤芯中的光才能传到变形器和探测器 其方法是在几厘米长的包层外边表面上刷上黑漆这就可以以乎完全吸收掉传入包层中的光或者剥去外包层置于折射率匹配的小盒中 其它类型 被测物体移动引起光纤变形 曲率半径随之改变引起辐 射模 其 它 类 型 将光纤绕成多圈螺旋管状增加变形长度以提高灵 敏 度 微 弯 型 水 听 器 多模光纤绕于带有螺纹的铝管螺纹谷内不会发生变形而通过纵向槽的那部分光纤将由于外部压力而变形如果这种压来来自于声波则可依此原理制成水听器 光 强 度 的 外 调 制 技 术 上述微弯调制技术属于内调制属于功能性调制技术它是利用光纤本身特性的改变来实现光调制的 所谓外调制技术是指调制环节发生在光纤以前的部分光纤本身的性质并不改变它只起到传光的作用此时的光纤分为两部分即输入光纤和输出光纤或发送光纤和接收光纤由于接收光强与接收光纤的端面的法向方面有关于是接收光纤的端面可以视为接收信号 反射型光强外调制传感器 a原理 由输入光纤出射的光投射到反射面上其反射光的一部分进入输出光纤进入多少与反射面位置有关 定 量 分 析 反射型光强外调制传感器示意图 检 测 范 围 因此最大检测范围是 即检测位移的范围在 和 之间 遮光型光强外调制技术 上面所言为反射式除此之外还有遮光式一种办法是将发射光纤和接收光纤对准光强调制信号加在移动的遮光板上另一种方法是直接移动接收光纤这两种方式都是使接收光纤只能收到发送光纤发出的部分光从而实现光调制 遮光型光强外调制技术 用这种办法可以测量位移压力温度等物理量这些物理量的变化都可使光强减弱由于闸式要使两光纤距离大一些因此光损耗较大但它可固定两光纤因而使用可靠 折射率光强度调制技术 反射系数式光强调制技术 反射系数与两介质的折射率有关利用折射率的变化来改变反射系数则可达到调制光强的目的下图给出了一种典型装置