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WGH-10型黑体说明书
概述
WGH-10型黑体实验装置专门用于进行黑体辐射能量的测量和任意发射光源的辐射能量的测量。可以记录出发光源的辐射能量曲线。在实验时,通过改变光源的温度,分别进行扫描,可以从记录的光谱辐射曲线直接看到维恩位移定律的现象,并能够对普朗克定律、斯忒藩-波尔兹曼定律进行较精确的验证。
WGH-10型黑体实验装置的控制系统采用WINDOWS界面,在WINDOWS 95/98系统下均能适用,功能强大、操作简便。控制软件中,根据普朗克公式可以计算出任意温度下的绝对黑体的理论曲线,用户可以根据需要提取。WGH-10型黑体实验装置所配的光源是溴钨灯,溴钨灯的谱线大致类似于黑体,但是由于钨的发射系数不是1,所以需要进行修正。软件可以对不同温度下溴钨灯的曲线进行发射系数((仅限于溴钨灯)的修正。
此外WGH-10型黑体实验装置还可作为光谱区间在800-2500nm范围的光栅光谱仪使用,进行其它实验。
1.规格与主要技术指标
1.1 规格、参数:
相对孔径 D/F=1/7
焦距 302.5 mm
色散元件 300L光栅
狭缝 0-2 mm连续可调,示值精度0.01mm/格,最大高度20mm
主机尺寸 360×300×160mm
1.2 主要技术指标:
波长范围 800—2500nm
波长精度 ±6 nm
波长重复性 3 nm
杂散光 ≤0.3%T
2.黑体的基本理论
2.1 黑体辐射
任何物体,只要其温度在绝对零度以上,就向周围发射辐射,这称为温度辐射。黑体是一种完全的温度辐射体,即,任何非黑体所发射的辐射通量都小于同温度下的黑体发射的辐射通量;并且,非黑体的辐射能力不仅与温度有关,而且与表面的材料的性质有关。而黑体的辐射能力则仅与温度有关。黑体的辐射亮度在各个方向都相同,即黑体是一个完全的余弦辐射体。
辐射能力小于黑体,但辐射的光谱分布与黑体相同的温度辐射体称为灰体。
2.2黑体辐射定律
2.2.1 黑体辐射的光谱分布——普朗克辐射定律
此定律用光谱辐射度表示,其形式为:
(瓦特/米3)
式中:第一辐射常数C1 = 3.74×10-16 (瓦×米2)
第二辐射常数C2 = 1.4398(10-2(米×开尔文)
黑体光谱辐射亮度由下式给出:
(瓦特/米3.球面角)
图2-1 给出了随波长变化的图形。
图2-1 黑体的频谱亮度随波长的变化。每一条曲线上都标出黑体的绝对温度。
与诸曲线的最大值相交的对角直线表示维恩位移定律。
2.2.2 黑体的积分辐射——斯忒藩—波尔兹曼定律
此定律用辐射度表示为,
(瓦特/米2)
T为黑体的绝对温度,(为斯忒藩—波尔兹曼常数,
( == 5.670×10-8 (瓦/米2.开尔文4)
其中,k为波尔兹曼常数,h为普朗克常数,c为光速。
由于黑体辐射是各向通行的,所以其辐射亮度与辐射度有关系
于是,斯忒藩—波尔兹曼定律也可以用辐射亮度表示为
(瓦特/米2.球面度)
2.2.3 维恩位移定律
光谱亮度的最大值的波长 (max与它的绝对温度T成反比,
A为常数,A=2.896(10-3 (米×开尔文)
L max=4.10T5(10-6(瓦特/米3.球面角.开尔文5)
随温度的升高,绝对黑体光谱亮度的最大值的波长向短波方向移动。
3 黑体实验装置的实验原理
3.1仪器的基本组成
WGH-10型黑体实验装置,由光栅单色仪,接收单元,扫描系统,电子放大器,A/D采集单元,电压可调的稳压溴钨灯光源,计算机及打印机*组成。该设备集光学、精密机械、电子学、计算机技术于一体。
*注:计算机及打印机不包含在仪器配置内,用户可选配。
(各部分的连线插头均唯一,不会出现插错现象)
3.2 主机结构
主机部分有以下几部分组成:单色器,狭缝,接收单元,光学系统以及光栅驱动系统等。
图3-1 WGH-10型黑体实验装置
3.2.1 狭缝
狭缝为直狭缝,宽度范围0-2.5mm连续可调,顺时针旋转为狭缝宽度加大,反之减小,每旋转一周狭缝宽度变化0.5mm。为延长使用寿命,调节时注意最大不超过2.5mm,平日不使用时,狭缝最好开到0.1-0.5mm左右。
为去除光栅光谱仪中的高级次光谱,在使用过程中,操作者可根据需要把备用的滤光片插入入缝插板上。
3.2.2 仪器的光学系统
光学系统采用C-T型,如图3-2。
图3-2 光学原理图
M1反射镜、M2准光镜、M3物镜,M4反射镜、M5 深椭球镜、M6转镜
G平面衍射光栅、S1入射狭缝、S2,S3出射狭缝、T调制器
入射狭缝、出射狭缝均为直狭缝,宽度范围0-2.5mm连续可调,光源发出的光束进入入射狭缝S1,S1位于反射式准光镜M2的焦面上,
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