用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器.pdfVIP

用全速电流测试方法检测PIC12F509 微处理器的 实验研究 邓杭剑，邝继顺 湖南大学计算机与通信学院，湖南长沙（410082 ） E-mail ：ziodeng@163.com 摘 要：全速电流测试是一种新的电路测试方法。本文将一种指令级的全速电流测试方法应 用到RISC 指令集流水线结构的PIC12F509 微处理器的测试实验中。实验结果表明指令级的 全速电流测试方法对PIC12F509 微处理器进行测试是可行的。 关键词：全速电流测试，PIC12F509 微处理器，指令级，流水线 中图分类号：TN707 1. 引言 随着制造工艺的改进以及设计的复杂化，集成电路的测试变得越来越困难，传统的电压 测试方法和稳态电流测试（I [1] DDQ Testing ）方法 已不能满足高性能集成电路的测试要求。为 [2] 此，人们提出了瞬态电流测试（IDDT Testing ）方法 ，它能发现一些其他测试方法所不能发 现的故障，从而可以进一步提高测试的故障覆盖率，满足人们对高性能集成电路的需要[3,4] 。 然而瞬态电流测试方法要求测试仪能够捕捉高速电路中瞬间的电流情况，难度很大，对测试 设备的要求很高，目前的测试设备很难达到要求。为了降低对测试设备的要求，人们又提出 了全速电流测试（I [5] 1 DDA Testing ）方法 。 虽然全速电流测试已经有了一定的理论基础，但实际效果如何有待进一步验证[6] 。本文 希望在PIC 微处理器的测试实验中验证此方法。 文章第2 部分先介绍PIC 微处理器的内部结构以及全速电流测试的有关知识；第3 部分 论述如何生成测试序列；第4 部分介绍PIC 微处理器的测试实验并对实验数据进行分析；最 后是结语。 2. 相关知识介绍 2.1 全速电流测试 瞬态电流是指电路在转变过程期间，由于电路中PMOS 管和NMOS 管可能在瞬间同时 导通以及电路中等效电容的充放电效应，发生剧烈而复杂变化的电源电流，其大小主要和电 路发生转变时所产生的逻辑跳变数相关，通过 SPICE 模拟得出瞬态电流的大小和电路中产 生的逻辑跳变数成正比[7] 。 全速电流测试方法的原理是将稳态电流测试方法和瞬态电流测试方法结合起来，在一段 时间内对被测电路反复输入两个交替变换的测试向量，在电路状态不断变化时，通过测试瞬 态电流的平均值来判断电路的好坏[8] 。如果故障电路和无故障电路由于电路跳变差异导致的 电流差别足够大，则可以以此来区分故障电路和无故障电路。 为了使全速电流测试方法在微处理器的测试中更加简单易行，本文结合PIC 微处理器的 指令特点，在对其进行测试时，不对微处理器施加外部激励，而是将指令序列写入微处理器 的程序存储器作为测试激励。待指令写入后，令微处理器循环运行测试指令，与此同时测量 1本课题得到国家自然科学基金（项目编号）的资助。 -1- 电源端的电流信号。这样的转变降低了对设备的要求，使微处理器的测试更加简单易行。我 们将这种测试方法称为指令级全速电流测试方法。 2.2 PIC12F509 流水线结构及指令执行时序 PIC12F509是一种RISC指令集的8位微处理器，它采用独特的哈佛总线结构，在芯片内 部将数据总线和指令总线分离，并且采用了不同的总线宽度，将程序存储器的字长从8位宽 扩展到12位宽，使其可带所有单字指令。PIC12F509程序存储器在一个指令周期内完成取指， 两级流水线结构使其可在取指的同时执行指令。因此，除程序跳转指令之外的所有指令（33 条）都在一个指令周期内执行。其结构框架如图1所示。