EBSD技术对大晶粒Ni42Al合金超塑变形过程组织演变探究.docVIP

EBSD技术对大晶粒Ni42Al合金超塑变形过程组织演变探究 　【摘要】 采用EBSD分析技术研究1075℃、初始应变速率为1×10-3s-1试验条件下大晶粒Ni42Al合金超塑变形过程中的组织演变。研究发现，变形前大晶粒Ni42Al合金中小角度晶界比例极低，均以大角度晶界为主，且某几个特定角度的大角度晶界占有明显优势。在超塑变形过程中，持续有取向差5°以下的小角度晶界产生。随变形量的增大，新形成的小角度晶界取向差增加，转变为取向差较大的5～15°小角度晶界，进而转变为15°以上的大角度晶界。小角度晶界的产生速率与小角度晶界转变为较大角度晶界的速率趋向一动态平衡。小角度晶界向较大角度晶界不断转变的结果使大角度晶界数量不断增加，最终导致晶粒显著细化。 【关键词】 EBSD NiAl 金属间化合物 大晶粒 Abstract: The microstructural evolution of largegrained Ni42Al alloy during superplastic deformation at 1075℃ with initial strain rate of 1×10-3s-1 was studied using EBSD technique. The results show that before deformation, the most grain boundaries belong to high angle boundaries, with several special angles as domain. During deformation, very low angle grain boundaries with misorientation less than 5°formed continuously. With the increase of the deformation, the newformed very low angle grain boundaries increased their misorientation and turned to grain boundaries with larger misorientation between 5～15°, and finally turned to high angle grain boundaries with misorientation larger than 15°. There exists a sort of balance between the formation of new low angle grain boundaries and their turn to higher angle grain boundaries. The low angle grain boundariess forming and turning to higher angle grain boundaries made the number of high angle grain boundary increased continuously, thus resulted in grains being refined remarkly. Key words: EBSD； NiAl； intermetallics； large grained 引言得益于电子计算机突飞猛进的发展，电子背散射衍射（EBSD技术，又称OIM技术）于二十世纪八十年末应运而生［1］。该技术可对尺寸较大的块状样品中的大量晶界进行分辨率为05 μm的快速统计分析。EBSD技术的分析原理如图1所示［1］。电子束入射到倾斜一定角度的试样表面，在入射点处发生非弹性散射。这些非弹性散射电子在一小体积内向各个方向散射，其中满足Bragg衍射条件的特定晶面的电子发生衍射，从而造成某一方向上电子强度的差异。这种差异反映在安置于样品上表面附近的接收器（或荧光屏）上则表现为一系列平行的亮暗线对。这种线对花样叫电子背散射花样（EBSP），事实上就是TEM中观察到的菊池花样，只是在EBSD技术中利用的是背散射电子而非透射电子。因此，EBSP也被称作背散射电子菊池花样（BSKEP）。通过标定独立的菊池线对以精确测定晶体取向的技术已广泛应用于TEM研究中。然而TEM研究的不足是基本上只能研究很小的区域（电镜视场），并且大部分标定工作依靠手工完成。与之相比，EBSD技术的优势体现在可以使用常规金相样品，通过控制扫描电镜的电子束或样品台移动，获取大尺寸区域的一系列花样。配合软件的自动控制和对花样的自动标定，可以得到整个区域的取向分布。该技术目前已广泛用于微织构