SPM(第三次修改) - 副本.ppt

人类触觉的延伸扫描探针显微镜（SPM） 目录 AFM：应用实例 大分子氟 扫描范围：400nm×400nm 纳米金 AFM：应用实例 X染色体 蛋白质纤维 AFM：应用实例 金属薄膜台阶 的表面形状台 阶高度0.3nm AFM：应用实例 晶体生长台阶 AFM：应用实例 钙钛矿晶体表面 分支:扫描近场光学显微境（SNOM） SNOM：原理 隐失波 光子具有光子隧道效应。 研究发现，物体受光波照射后，离开物体表面 的光波分为两种成份：一部分光向远方传播，这是 传统光学显微镜能接收的信息；而另一部分光波只 能沿物体表面传播，一旦离开表面就很快衰减。这 部分在近场传播的光波又叫隐失波。由于隐失波携 带有研究样品表面非常有用的信息，应当加以利用。 SNOM：原理 SNOM：原理 SNOM：原理 SNOM：原理 技术关键与解决方案 关键问题是必须使探针与样品间的距离 控制在近场（几至几十纳米）尺度范围内并 保持某一恒定值。因此，精确测控探针与样 品间的距离是近场光学显微镜中的一个很重 要环节。 到目前为止，已发展了几种控制探针与 样品间距的测控技术，如：切变力强度测控 技术，接触型测控技术，隧穿电流强度测控 技术，近场光强度测控技术。 SNOM：装置 SNOM：应用 对晶体样本进行表征，左图为AFM，右图为SNOM测量图 SNOM：应用 透射图像 荧光图像 SNOM：应用 SNOM SFM 六元环（氧化铝颗粒） OM SNOM SFM SNOM：应用 产生绿色荧光蛋白的微生物 AFM SNOM SNOM：应用 单层金颗粒 嵌段共聚物链末端分布 嵌段共聚物的相分离结构 分支：静电力显微镜（EFM） EFM：原理 与原子力显微镜类似。关键部分都是由悬臂梁组成的 探针。但与原子力显微镜测量探针与样品的范德华力不同， 静电力显微镜通过测量两者的库仑相互作用来实现样品成 像。工作时，探针与样品之间被加上工作电压，悬臂梁探 针受静电力的作用，在样品表面震荡，但不接触样品表面。 范德华力随着原子间距离 r 成1/r6衰减，因而原子力显微 镜必须保证探针与样品表面几乎接触。相比之下，随 1/r2 衰减的库仑力较为长程，通常探针与样品表面的工作距离 为100纳米。 假设样品与探针之间的电压△ V，等效电容为C，那么 系统的总能量为： 用 z 来代表样品表面的法线方向，则探针所受的静电 力可以表示为： EFM：原理 在实际操作中，由于探针与样品之间既有范 德华力，又有库仑力。即使选用较大的工作距离， 有时仍不能完全忽略原子力存在。 目前通常的解决方法是将探针与样品之间的 直流电压改为交流信号。最后，在处理信号时， 只处理相关频率的交流信号，就可以将范德华力 的影响排除在外。 EFM：原理 EFM：工作模式 与AFM类似： （1）接触模式 （2）非接触模式 （3）轻敲模式 EFM：应用实例 氮化硅 EFM：应用实例 石墨烯 EFM：应用实例 SiO2载体上碳纳米管的生长 EFM：应用实例 CdSe、CdS、ZnS 纳米结晶 EFM：应用实例 不同反应时间 氧化石墨烯轮廓 EFM：应用实例 科学家用EFM拍摄 了这张直径只有18纳米 的碳纳米管所释放电荷 的绦虫似的图像，其明 亮的光环是碳纳米管顶 端释放电荷形成的，而 放了电的碳纳米管则呈 现暗色。 AFM在法庭科学的应用 文件检验 法医检验 指纹检验 物证检验 法庭科学 AFM在法庭科学的应用：笔迹顺序检验 概要 若干分支简介 实例图片展示 小结 概要：引言 扫描探针显微镜（scanning probe microscope, SPM）是用一尖锐的传感器探针在样品表面上方扫描， 通过“感触”来检测样品表面性质，不使用物镜成像， 这是与其他显微镜最主要的区别。 SPM已成为表面微观结构、性能、状态观察分析以 及相应操控的重要手段,其性能发挥很大程度上取决于 探针的性质和结构、操作对象和环境等。 概要：历史 1928年英国科学家Synge提出了扫描 探针近场光学显微镜的概念。他提出制造 一个玻璃的针尖，在这个针尖的末端有一 个极小的照相机的光圈，然后用这个针尖 对待测样品作一行行的扫描。他后来也提 出了对样品进行压电式扫描的想法。但由 于种种原因，他的工作没有受到注意。 直到1956年，O’Keefe重新研究了相同的 想法。这次，O’Keefe研究了光在一个100埃的 狭逢中的传播，指出了该技术有望达到100埃的 分辨率。但不幸的是，他断言相关的技术还不成 熟，实验方面的工作还