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* * 光电子技术(22) 脉冲计数器：计数单位时间内的脉冲数，反映了输入光功率。 三、常见光子计数器 美国EGG公司生产SPCM-AQ系列单光子计数器。 Stanford Research Systems生产的SR400系列双通道单光子计数器。 德国的FastComTeck公司生产的Model 7882双通道光子计数器。 四、时间分辨光子计数器 应用时间分辨光子计数器可以测量周期性时间变化的信号，如发光 衰减过程。只需要将计数器换为高速A/D转换器和存储器序列，不同 时刻的A/D转换信号存在不同的存储单元中。对多个周期重复累加， 最后获得随时间变化的信号光强。目前可以做到几十皮秒的时间分 辨率。广泛用于发光动力学研究。 光电子技术(22) §5.7 光学多道分析器（OMA） 光学多道分析器是传统光谱仪与面阵或线阵探测器相结合的产物。 将传统光谱仪的出射狭缝改为出射孔，设置阵列探测器件在出射孔 处同时测量不同波长的光强。即同时测量宽的光谱。对于弱信号， 也可以通过阵列探测器多次累加信号，获得强的、高信噪比光谱信 号。典型的OMA结构如图114所示。 一、阵列探测器要求 1、光谱响应 探测器主要使用固体探测器，如CCD，要求光谱响应与被测量光谱 匹配。 2、光谱分辨率 光电子技术(22) 光谱分辨率除了依赖光栅的色散率外，还依赖探测器的象素宽度。 象素宽度越窄，分辨率越高。 3、动态范围 指探测器所能测量的最强信号与最弱信号之比。 4、光谱强度的总体标定 由于光栅对不同波长具有不同的衍射效率，探测器对不同波长有不 同的响应灵敏度，所以即使输入光谱是平坦的，探测器输出的光谱 也不会是平坦的，这就是光谱强度畸形，需要校正，即标定。 所谓标定就是测量出OMA系统的总的光谱响应曲线。包括光栅色 散、反射镜反射谱和探测器响应光谱等的总体影响。 光电子技术(22) 标定方法： 用已知光谱分布的光谱灯做光源，读出探测器的输出光谱，用探测 器的输出光谱除以灯的光谱分布，即得OMA系统的总体光谱响应曲 线。将此光谱响应曲线存在计算机内。以后OMA测量到的任何光谱 都要用此光谱响应曲线归一化。 5、波长标定 由于光栅的线色散是非线性的，所以探测器上的波长不是均匀分 布的，需要标定。 利用多条已知波长的光谱线，确定探测器上多个点的波长，然后， 使用内查法确定已知点之间的各象素的波长。 光电子技术(22) 二、光学多道分析器介绍 1、OMA-II系统 由光谱仪，阵列探测器及电源、控制系统、数据采集系统等组成。 由普林斯顿公司研制的第二代产品。 阵列探测器使用硅靶摄像器件或增强型硅靶摄像器件。 2、OSA系统 由德国的BM公司研制，结构与OMA类似，使用的探测器阵列包括 硅靶和增强硅靶，二极管阵列等。 3、OMA-V系统 光电子技术(22) OMA-V系统是目前普林斯顿仪器公司的最新产生品，由三光栅成 象光谱仪和阵列探测器组成。 三光栅分别具有不同的色散率和闪耀波长。可根据需要，自动切换 不同的光栅。 探测器阵列可以选择CCD，也可以选用近红外量子效率较高的PDA 成象光谱仪需要进行场曲矫正，使得探测器阵列处的象为平面。 4、时间分辨OMA 由三光栅成象光谱仪、ICCD和脉冲信号发生器及其它附件组成。 ICCD为增强型CCD，它是在普通CCD前面加了MCP。结构如图115 光电子技术(22) 连续工作模式：MCP上加连续高电压 时间分辨工作模式：MCP上加不同延迟时间的高压脉冲电压，脉冲 宽度通常约3~5ns，电压幅度几千伏。同步信号通常由激发光给 出。此同步信号触发高压脉冲发生器中的延迟器，延迟预设置的 延迟时间后，给出触发信号触发高压信号发生器，产生3~5ns的 高压脉冲，施加在MCP上，使光谱信号通过MCP增强，并曝光CCD。 通过调节延迟器的不同延迟量，就能时间分别测量整个光谱随时间 的演化过程。如图115a所示. 应用：纳秒时间分辨光谱测量。 光电子技术(22) 第六章 非线性光学频率转换技术 属于非线性光学研究内容，是二阶非线性光学效应。 §6.1 概述 一、线性与非线性光学 线性光学研究线性光学现象，即物质的响应与光的场强成线性关系。 表征线性光学效应的参数与光场无关。如线性吸收系数，反射系数。 非线性光学研究高阶非线性光学现象，即物质的响应与光的场强成 非线性关系。此时，通常的线性光学参数中包含与光的场强有关的 项。非线性现象只能在强场中出现，所以，非线性光学是在激光出 现后诞生的。 倍频与参量属于二阶效应，是最低阶非线性光学效应。 光电子技术(22) 二、介质的极化 极化狭义上指原子的外层电子云受到外电场作用发生畸变，使得负 电荷中心偏离原子核。这样就产生了偶极子，存在偶极矩。极化的 强弱（大小）用偶极矩度量。 极化广义上指在外电场作用