第7章统计过程控制20091012.ppt

* 1、荷兰学者维尔达（S·L· Wierda）把过程能力满足技术要求称为技术稳态。统计稳态与技术稳态这两个问题是相互独立的，需要分别进行处理。 2、状态Ⅳ是最不理想的，也是现场所不能容许的，需要加以调整。使之逐步达到状态Ⅰ。从Ⅳ到Ⅰ有两种途径，即状态Ⅳ→Ⅱ→Ⅰ和Ⅳ→Ⅲ→Ⅰ。究竟通过哪条途径由具体的技术经济分析来决定。有时，为了更加经济，宁可保持在状态Ⅱ也是有的。当然，生产线的末道工序一般以保持状态Ⅰ为宜。 3、只有当过程达到了所确定的状态后，才能将分析用控制图的控制线延长作为控制用控制图。由于后者相当于生产中的立法，故由前者转为后者时应有正式的交接手续。这里用到判断稳态的准则（简称判稳准则），在稳定之前还要用到判断异常的准则（简称判异准则）。 4、从数学的角度来看，分析用控制图阶段是过程参数未知的阶段，控制用控制图是参数已知的阶段。 ?CTQ（Critical-To-Quality）的意思是品质关键点? * * 使用计量型控制图的好处： 量化的值（直径16.33mm）比简单的“是-否”陈述包含的信息更多； 虽然收集计量型数据相比花费更多，但一个小样本就能快速地得出结论，由于效率的提高，能够导致总的测量成本降低； 在做出可靠的决定之前，只需检查少量的产品，“不受控”信号和采取纠正措施之间的时间间隔通常更短； 用计量型数据，可以分析一个过程的性能，可以量化所做的改进； 一个计量型控制图可以通过其过程变差、零件间的变差和过程的均值来解释过程数据。 * n小于等于6时，D3都为零 * * 因为位置统计量的控制限依赖于变差的统计量变化，故变差的控制统计量应该首先被分析以检查稳定性。要求两张图都没有不受控的情形。注意并不是所有特殊原因都是有害的，有些特殊原因有可能减小了过程的变差，而对过程改进起到积极作用。应当对特殊原因进行评审。在识别变差的特殊原因时，过程事件日志将是一个有用的信息源。 * 过程能力是指过程加工质量方面的能力。这种能力表示过程稳定的程度，在过程受控时，特性服从的分布是正态分布。过程的稳定性可以用标准差来度量，越小，过程越稳定，过程能力接越高。 （注意，B=6σ，这里所说的B越小，过程能力越高，不是指B取4σ或者3σ，而是指σ值变小，σ越小，则过程的波动小，从而过程能力越高） 过程能力指数是用来度量一个过程满足顾客要求的程度。顾客的要求可以用规范限来表示。 * ε epsilon * * 其道理为我们不仅需理解过程的精度，也要知道过程的准度，这样才能更完整的评价这个过程。 Cpk=Cp(1-k)，计算k值，k值越小，则epslon越小，均值的漂移越小，准度越好。 * 过程达到6σ水平，缺陷率仅为百万分之3.4左右 3.4ppm 当存在1.5σ的漂移时，例如：Cp=2，则Cpk=Cp(1-k)，此时，k=2*ε/T= 2*1.5σ/12σ=1/4，得到Cpk=1.5 ，其它计算类似 * 提问：现在要求是六西格玛管理啦，控制图的界限应该是上下控制限距离中心限应该为6倍的西格玛！！！！ * * * 能力指数Cpk还可用来确定一个过程是否能有能力满足顾客的需要；Ppk表示过程性能是否实际上满足了顾客的需求。 一般来说，计算得出的指数（或比值）可被接受为“真实”的指数（比值），即不考虑抽样变差对计算值的影响。例如：计算得出的指数Cpk为1.30和1.39可能来自相同的稳定过程，其不同仅仅是因为抽样变差。 计算过程能力指数必须满足的最低条件：1）产生数据的过程处于统计控制状态；2）过程数据中的单个测量值构成近似的正态分布；3）规范是以顾客需求为基础的。 示例：已知某零件尺寸标准为 ，随机抽样后 计算出的样本特性值 ， 计算过程能力指数，并根据标准做出判断，提出解决措施。 解： 过程能力严重不足，消除偏移量，是提高过程能力指数的有效措施。 7.4 过程性能指数 一、过程性能指数（Process Performance Index） PP,PPK反映长期过程能力满足技术要求程度，故称为长期过程能力指数。 与CP，CPK短期过程能力指数的主要区别为： 总体标准差的估计方法不同； 不考虑过程稳定与否； 过程性能指数一般小于过程能力指数。 (对于同一过程，过程性能指数使用的样本标准差S往往大于在稳定状态下总体标准差σ的估计值，过程性能指数一般小于过程能力指数。) C系列过程能力指数 P系列过程能力指数 CP无偏移过程能力指数 PP无偏过程性能指数 CPU无偏移上单侧短期过程能力指数 PPU无偏移上单侧过程性能指数 CPL无偏移下单侧短期过程能力指数 PPL无偏移下单侧过程性能指数 CPK有偏移短期过程能力指数 PPK有偏移过程性能指数 过程能力