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激光技术系列实验-实验报告
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实验一 半导体激光器系列实验
一、实验内容
1、 半导体激光器输出特性实验
2、 半导体激光器偏振度测量
3、 半导体激光器光谱特性测量
4、 半导体激光器发散角和光斑尺寸测量
二、实验仪器
1、 半导体激光器 1 套
2、 温控仪部 1 套
3、 偏振片部 1 套
4、 激光功率指示仪 1 套
5、 光学多通道光谱仪 1 套
6、 光靶 1 套
三、实验方法
1、半导体激光器发散角测量
使用转台,测量半导体激光器的发散角。
1)、打开激光器,去掉准直透镜,按下图调整好光路。
2)、开启激光功率指示仪,将量程至于20mW 档,选择650nm 波长,调零,预热。
3)、调节旋转台,测量不同角度的能量,同样的调节SZ-06 手动X 轴选专家,测量不同
角度的能量。测量光功率的最大值Pm,再测出光强为最大光强e 分之一所对应的光束空间
分布角度,左右两边都测出,平均得出发散角。
2、半导体激光器偏振性测量
1
结合偏振片,使用转台,测量半导体激光器的偏振性。结构图如上图。打开激光器,去掉
准直镜,开启激光功率指示仪,讲量程置于20mW 档,选择650nm 波长,调零并预热,旋转
SZ-06 手动X 轴旋转架,每隔10 度记一下数据。
3、半导体激光器的光谱分析
(1) 使用调节台,使用耦合镜,将激光耦合进入多通道分析仪。耦合时,将多通道分析
仪的档位调节至观察档。
(2) 使用光谱分析软件,测量半导体激光器的激发光谱。测量时,将多通道分析仪的档
位调节至CCD 档。
(3) 逐渐减小半导体激光器的输入,结合上一部测量的半导体激光器输入输出(拐点),
测量半导体激光器的荧光光谱
四、实验结果与分析
1.输出特性曲线
电流/mA 10 11 12 14 16 18 20 22 24 26
光功率/mW 0 0.01 0.01 0.02 0.35 1.02 1.67 2.24 2.73 3.16
由图可以确定激光器的阈值电流,约为15mA 左右
2
2.偏振性测量
θ /度 0 10 20 30 40 50 60 70 80
P/μ W 246 429 608 762 870 938 958 942 885
θ /度 90 100 110 120 130 140 150 160 170
P/μ W 773 621 448 285 139 41 7 32 124
θ /度 180 190 200 210 220 230 240 250 260
P/μ W 253 421 610 767 891 965 989 973 905
θ /度 270 280 29
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