S-5470系列微弱信号检测IC-SIISemiconductorCorporation.PDFVIP

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2017-09-30 发布于天津
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S-5470系列消耗电流极低 Normally-off 微弱信号检测IC © SII Semiconductor Corporation, 2012-2016 Rev.1.3_00 S-5470系列是使用CMOS技术开发的消耗电流极低、Normally-off的微弱信号检测IC。本IC通过使用可检测 0.7 nA (典型值) 微弱电流的电流检测功能，可以检测出各种发电元件或感应器元件的微弱信号。并且，通过使用电流差检测功能，还可检测出被同时输入的两个信号的强弱差异。由于具有消耗电流极低、工作电压低的特点，因此最适用于电池驱动的小型便携设备。  特点 • 消耗电流极低 : IDD ≤0.1 nA (典型值) • 检测微弱电流 : IDET = 0.7 nA (典型值) • 工作电压范围广 : VDD = 0.9 V ~ 5.5 V • 检测微弱信号: 可检测约0.7 nW (1.0 V, 0.7 nA (典型值))的微弱信号 • 检测信号的强弱差异 : 可检测出被同时输入的两个信号的强弱差异 • 无铅 (Sn 100%) 、无卤素  用途 • 内部阻抗高的发电元件或者感应器元件输出信号的检测 • 使用两个发电元件或者感应器元件的高敏感度感应 • 便携设备、无线设备的各种感应器的小型化、低耗电化  封装 • SOT-23-5 1 消耗电流极低 Normally-off 微弱信号检测IC S-5470系列 Rev.1.3_00  框图 1. CMOS输出产品 VDD *1 *1 + INP 电流加算器 + *1 − 电流转换器逻辑选择 OUT INM 电流増幅器 IDET − *1 *1 VSS