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 非线性测量简介 了解什么是非线性矢量分析 现在，研究和设计高性能射频有源器件的工程师和科学家们正面临着诸多难题，其中的关键涉及到怎样表 征器件的非线性特性，从而能降低器件的非线性带来的不利影响，或者可以对其加以利用，提供一个线性 的、高效的大功率解决方案。这个任务在电信业尤为突出，因为器件的非线性特性往往会造成信息互相干 扰，降低无线通信的有效带宽。 放大器是无线通信领域内不可或缺的元件，不过也正是由于其非线性特性经常造成频谱浪费；如果为了考 虑频谱的利用效率而把功率放大器设计为只工作在它的线性区域内，又会造成可用功率的浪费。实际情况 是，人们经常会把放大器推动到其工作的非线性区域，然后在非线性区域的一个工作点附近进行线性化。 这种应用就让了解像功率放大器和倍频器等射频有源器件的非线性特性变得愈加重要，因此，精确测量器 件的非线性行也成为了重中之重。 由于所有有源器件在不同的程度上都会表现出非线性特性，因此相当多的有源甚至是无源器件的研究和设 计工作都能够从这种更能反应器件的真实特性的非线性测量分析中获益，例如 LNA、T/R 模块和变频器， 以及带磁芯的电感器或处理大功率信号的滤波器等无源器件。 遗憾的是，进行非线性测量并不容易，尤其是当前能够完成这个任务的工具和模型通常都很难使用，而且 也无法提供所需要的信息。在这里，我们真正需要是一个专为精确地测量和仿真射频有源器件的非线性特 性而设计的解决方案。如果有了这些器件非线性特性的信息，设计人员就有了控制和最大程度地降低非线 性特性所带来的不良影响的能力，从而能更精确、更轻松、更快速地设计出线性大功率解的产品。 安捷伦科技测量器件非线性特性的最新解决方案 安捷伦有两种主要方法可以测量被测件 （DUT）的非线性效应：非线性器件的特性表征和 X 参数。非线 性器件的特性表征可提供被测件的入射波、反射波和透射波经过校准和矢量校正后的波形。矢量校准、功 率校准和使用谐波相位参考校准可去除系统误差。使用这种测量方法，所有接收机必须同时对每个频点进 行测量。从非线性器件特性表征测量结果得到的信息能让工程师们能够更好地理解和更确定性地控制被测 件的非线性特性。 X 参数是对S 参数的一种合理的并且在数学理论上完全正确的往非线性和大信号工作环境下的扩展（请看 下一节“对 X 参数的详细解释”）。测量 X 参数测量需要使用两个信号源，这两个信号源以恰当的频率 和相位关系同时给被测器件提供大的和小的激励信号，在测量过程中小心控制这些信号的相位和幅度至关 重要，在这些条件下测量散射波的幅度和相位信息就可以得到 X 参数。当器件在线性状态或非线性状态 下工作时，这些参数可为工程师提供器件的增益和匹配等信息。像 S 参数一样，X 参数也可以导入安捷 伦先进设计系统（ADS ）或显示出来。 对 X 参数的详细解释 X 参数相对于器件非线性特性的测量就像 S 参数相对于器件的线性参数的测量。先看一下 S 参数，它是 作为对射频器件的线性特性进行分析和建模的方法而发展起来的，在今天， S 参数在对由多个独立器件 级联而成的复杂系统进行分析、建模以及设计当中仍然起着重要的作用。它们包括了早已为工程师们所熟 悉的测量项目，例如 S11 （输入匹配）、S22 （输出匹配）、S21 （增益/损耗）、S12 （隔离度）等，这 些测量项目的测试结果可以很方便地应用于软件仿真工具之中。但是，尽管 S 参数用途广泛且功能非常 强大，但它们确有其局限性——只能用于小信号线性系统。 第 1 页  非线性测量简介 S 参数都是用传统的网络分析仪来测量的。在比较小的程度上，传统的矢量网络分析仪也可以使用近似技 术来深入分析器件的非线性特性，其中包括使用非比值接收机测量以及使测量接收机的测试频率偏离激励 源的频率的方法。使用这些技术，传统的矢量网络分析仪可以进行简单的增益压缩、谐波的幅度、变频匹 配、变频损耗/增益和群时延等非线性特性的测量。 与 S 参数相比，X 参数是我们开发出来的表征和分析射频器件的线性和非线性特性的一种更可靠、更完 整的方法。作为 S 参数在大信号工作环境下