离子迁移课件探究.ppt

离子迁移谱技术(Ion Mobility Spectrometry ,IMS) 离子迁移谱技术是二十世纪七十年代发展起来的一门新兴的化学分析技术，被广泛应用于测定痕量的化学武器、毒品、爆炸物、以及空气污染物等，跟其他的有机化合物分析仪器相比较，它体积小、灵敏度高、适用范围广、分析时间快、能在大气压和室温下工作，是一种前景广阔的检测仪器。 IMS技术的应用进展 IMS检测原理： 首先使被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子,然后让离子在一弱电场中产生漂移,并测量出离子通过电场所用的时间,进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率(迁移率的定义是指在单位电场强度作用下离子的漂移速度).由于在一定的条件下,各种物质离子的迁移率互不相同,因而也就导致不同的离子通过电场的漂移时间各不相同.这样,我们就可以根据漂移时间的测量来间接达到对样品的分离和检测。 离子的迁移率: 离子的迁移率就是通过测定离子穿过迁移管的迁移时间或者说迁移速度来间接获得的。迁移率被定义为单位电场强度作用下离子的迁移速度，用公式表示如下: Vd=K*E 式中K为离子的迁移率，E为迁移管内的电场强度，Vd为离子的迁移速度。 迄今为止，传统弱场下最为成功的离子迁率理论是由Masno等提出的: 上式中，e为离子所带电荷，N为中性迁移气体分子的密度，k为玻尔兹曼