单多晶PET层压SOLAR板通用检验标准分档.docVIP

单多晶PET层压SOLAR板 通用检验标准文 件 编 号版 次1.1页 数第  PAGE 7 / 页 修 订 履 历 版 次日 期修 改 摘 要 备 注1.02012-5-30初版新建立发行1.1 会签□工管□品管□生技□□签名　　　　　日期　　　　　核 准审 查制 (修) 订年 月 日年 月 日年 月 日公布实施日期： 年 月 日 目的: 规定普通单晶、多晶PET层压SOLAR板A、B、C三种不同检验标准，区分品质要求，以保证满足不同客户的产品质量要求。 适用范围: 适用于高创事业部普通单晶、多晶PET层压SOLAR板成品的生产、检验出货标准，如有特别要求的产品需单独制定检验标准，共通部分可以参照本标准。 定义: 无 职责： 研发部门/人员：负责检验标准的拟制/修订；提供产品图纸、规格参数、检测方法及其它相关要求。 品管部门/人员：确性依据检验标准实施检验。 工管部门/人员：根据产品要求设置生产工艺。 生产部门/人员：执行检验标准，使生产的产品满足要求。 内容: 检验条件 检验人员校正视力不低于 1.0，无色盲，无需放大镜。 室内正常光线下（光照度300—500lx），离样本0.2~0.5m，与被检查表面角度35°范围之内，目视检查； 外观检查时间：每个产品3~5秒 外观检验标准 NO检验项目检验标准检验方式备注5.2.1晶片ABC1同一组件晶片尺寸晶片尺寸依据订单要求 尺寸公差±0.1mm晶片尺寸依据订单要求 尺寸公差±0.1mm晶片尺寸依据订单要求 尺寸公差±0.2mm卡尺测量批次晶片尺寸尺寸公差±0.５mm，当用１５６两栅４切晶片允许37.5mm与40.5mm两种不同长度的晶片尺寸公差±0.５mm，当用１５６两栅４切晶片允许37.5mm与40.5mm两种不同长度的晶片尺寸公差±0.５mm，当用１５６两栅４切晶片允许37.5mm与40.5mm两种不同长度的晶片测量2表面颜色（按ＰＡＮＴＯＮＥ标准分色阶）一个批次只允许一个颜色，误差相邻三个色阶之内且同一组件允许相邻两色阶一个批次只允许一个颜色，误差相邻四个色阶之内且同一组件允许相邻两色阶一个批次只允许两个颜色，同一组件允许相邻三色阶目视附件色差图片3晶片缺角/崩边距离主栅线1mm以上，深度≤0.5mm，长度≤同方向晶片长度(宽度)*3%。 不允许“V”型锋锐缺口。距离主栅线1mm以上，深度≤0.5mm，长度≤同方向晶片长度(宽度)*10%。 不允许“V”型锋锐缺口。距离主栅线1mm以上，深度≤0.８mm，长度≤同方向晶片长度(宽度)*25%。目视、测量4断片不允许不允许允许且不影响功率目视5晶片沾污任意角度50cm距离目视不可见。任意角度50cm距离目视不可见。允许面积小于晶片面积１０％轻微污渍目视6晶片划伤目视不可见允许晶片表面有轻微划痕且面积≤2%允许晶片表面有明显划痕且面积≤5%目视7栅线栅线完整，无缺失、破损、氧化等不良现象。细栅线总长每50mm允许1处0.2mm缺失、破损及轻微氧化细栅线总长每50mm允许2处0.2mm缺失、破损及轻微氧化目视8暗裂不允许不允许不允许目视5.2.2焊接9晶片排片晶片排片整齐，目视晶片之间间隙一致。晶片之间间距差异≤0.3mm，列间间距差异≤0.3mm晶片排片整齐，目视晶片之间间隙一致。晶片之间间距差异≤0.6mm，列间间距差异≤0.4mm晶片排片整齐，目视晶片之间间隙一致。晶片之间距差异≤1mm，列间间距差异≤0.5mm测量参照排片图10焊接外观铜带表面平整，没有焊接毛刺、扭曲、沾污等。 铜带与主栅线位置居中。铜带表面平整，没有焊接毛刺、扭曲、沾污等。 铜带与主栅线位置居中。铜带表面平整，没有焊接毛刺、扭曲、沾污等。 铜带与主栅线位置居中。目视11贴黑胶黑胶带平整，完全覆盖铜带黑胶带平整，完全覆盖铜带。黑胶带平整，完全覆盖铜带。目视12露铜带不允许不允许长度≤2mm，宽度≤铜带宽度×1/4(控制比例、分开)目视13PCB脱漆不允许不允许允许总面积的0.5%目视14PCB破损不允许不允许不允许目视5.2