X射线荧光方法与矿产资源快速评价Ξ.PDFVIP

第 18 卷　增刊　1996 年 8 月　 物探化探计算技术　　 18　　 　1996 V o l A ug COM PU T IN G T ECHN IQU ES FOR GEO PH YS ICAL AND GEOCH EM ICAL EXPLORA T ION X 射线荧光方法与矿产资源快速评价 丁益民 　曹利国 (成都理工学院) 【摘　要】　能量色散 X 射线荧光方法以其轻便、快速、低成本在现场及时取得元素含量数据 的特点, 在矿产资源评价和选冶中发挥了重要作用。本文以丰富的资料说明这一方法在地质 工作各阶段的应用效果、意义和前景。 【关键词】　能量色散 X 射线荧光分析　矿产资源评价　有色金属矿产　贵金属矿产　选矿 　冶金 四十年代核技术的迅速发展和六十年代末平衡滤光片对的发明为X 射线荧光方法应用 于现场测量提供了必要的条件。首先在地质矿产勘查中得到应用, 并逐步发展成为 X 射线荧 光方法的一个新的分支—能量色散 X 射线荧光方法(EDXR F ) 。由于采用了放射性核素作为 激发源和核辐射探测技术, 使仪器在体积、功耗上大幅度下降。在现场测量, 尤其是地质工作中 受到各方面的关注。 在我国七十年代初开始 EDXR F 的研究[ 1, 2 ]。除了在仪器设备的研制和实际应用之外, 还 注意到基体效应校正方法的研究[ 1, 3, 4 ] , 以提高数据的准确度, 逐渐达到或接近定量分析的允 许误差标准。 八十年代, 人们已经不满足于地质勘查现场和试样中元素含量的测定。在矿石开采、选矿、 冶金、产品检验、生产流程的自动控制和质量监测等方面都取得了显著的成绩。在地质工作中 则充分利用 EDXR F 能在现场及时提供元素含量近似定量数据的特点, 在地质理论和成矿规 律研究方面积极探索。将 X 射线荧光方法在地学中的应用推向新的高度。 1　矿体边界和元素分布范围 EDXR F 方法可以对手标本、岩心、岩壁或粉样在现场进行测量, 确定该试样中是否含有 某种元素, 并提供含量数据。这在普查找矿和矿化点的初步评价中具有重要意义。使我们对下 一步工作心中有数。若对岩心、岩壁作系统研究则可以提供更全面的资料。图 1 是阿尔泰地区 某多金属矿岩心测量结果。由此不难看出元素的分布范围。根据品位划定矿与非矿、贫矿与富 矿的边界, 以及表示矿化均匀度等特征。同时, 可以看出主矿体中主要矿化元素Cu , Zn , Pb 共 ( ) ( ) 本文为国家重点攻关项目 新疆 305 项目 资助课题 75- 56- 03- 14 部份研究成果 ( ) 收稿日期: 1996- 04- 10; 改稿日期: 1996- 07- 30　　　　地址: 成都市二仙桥东三路 1 号 邮政编码: 610059 © 1994-2006 China Academic Journal Electronic Publishing House. All rights reserved. ·24 · 物探化探计算技术 18 卷 生。但分布特点各不相同。 矿化较 Cu 均匀; Zn 矿化在矿层下部; 而 Pb 矿 化在矿层底部, 在 Cu , Zn 矿化结束 之后才出现明显的 Pb 矿化。这一方 面说明矿床在相对稳定的环境中生 成, 存在明显的分异现象。另一方面 根据元素地球化学性质, Pb 具有较 强的向上运移能