无损检测技术复习题.doc

第一次课复习要点： 1.什么是无损检测？常用的方法有哪些？无损检测目的是什么？检测方法怎样选择？无损检测的依据是什么？发展过程经历了几个阶段？ 定义：不损伤产品或材料又能发现缺陷的检测方法或技术，亦称为无损检测，属于非破坏性检测方法的范畴。 常用方法：1.表面检测：有三类：MT—磁粉 PT—渗透 ET—涡流 【VT—目视】 2.内部检测：有两类：UT—超声 RT—射线 检测目的：1.质量管理 2.在线检测 3.质量鉴定 方法选择：1.经济方面考虑。 2.技术方面考虑 依据：①产品图样 ②相关标准 ③技术文件 ④订货合同 发展过程：1.无损检查（NDI) 2.无损检测(NDT) 3.无损评价（DNE） 3.无损检测的基本特点有哪些?哪些检验属于破坏性检验? 特点：①非破坏性 ②检验方法的互容性 ③动态性 ④无损检测技术的严格性 ⑤检验结果的分歧性 破环性检验：力学性能检验、化学分析试验、金相检验等 5.射线检测技术的特点和适应范围？ 特点：①对检测工件无特殊要求，检验结果显示直观 ②检验结果可以长期保存 ③检验技术和检验工作质量可以自我检测 范围：(1)探伤：铸造、焊接工艺缺陷检验，复合材料检验等 (2)测厚：厚度在线实时测量(3)检查：机场、车站、海关检查，结构与尺度测定等 (4)研究：弹道、爆炸、核技术、铸造工艺等动态过程研究，考古研究，反馈工程等 8.光子与透射物质原子的相互作用有4种？分别详细说明。 1.光电效应：入射光子的能量大于原子对电子的结合能时，把能量全部传给轨道电子，使电子克服核的束缚成为自由电子，这一过程称为光电效应。(低能量射线占优势) 2.康普顿效应：光子与电子发生弹性碰撞，一部分能量转移给电子,使它成为反冲电子,而散射光子的能量和运动方向发生变化的现象。轻金属、射线的能量大约在0.2～3 MeV范围，康普顿效应显著。中等原子序数物质中，射线衰减主要由康普顿效应引起，在射线防护时主要侧重于康普顿效应。 3.电子对效应：当光子从原子核旁经过时,在原子核的库仑场作用下,光子转化为1个正电子和1个负电子,这种过程称为电子对效应。(高能量射线占优势) 产生电子对效应的条件：入射光子的能量 。当入射光子的能量不小于2.04MeV时，可与电子作用 产生电子对效应。产生电子对效应的可能性与 。 4.瑞利散射：入射光子与原子内层轨道电子作用的散射过程。束缚电子吸收入射光子后跃 迁到更高能级，再释放一个约等于入射光子能量的光子。产生瑞利散射的可能性与：入射光子的能量成反比；物质的原子序数平方成正比。 9.写出单色窄束射线的衰减规律，说明式中各量的物理意义。 衰减规律：均匀物质，小厚度： 即： 为线衰减系数。 则： 式中各量的物理意义：为线衰减系数；I0入射射线强度；I透射线强度；T吸收体厚度。 第二次课复习要点： 1.简述X射线检测的基本原理。 当射线通过被检物体时，有缺陷部位与无缺陷部位对射线的吸收能力不同，一般情况是通过有缺陷部位的射线强度高于无缺陷部位的射线强度，因此可以通过检测透过被检物体后射线强度的差异来判断被检物体中是否有缺陷存在。 2.工业上X射线检测的主要方法有几种？分别详细说明。 （1）照相法：Χ射线检测常用的方法是照相法，即利用射线感光材料(通常用射线胶片)，放在被透照试件的背面接受透过试件后的Χ射线。胶片曝光后经暗室处理，就会显示出物体的结构图像。 　根据胶片上影像的形状及其黑度的不均匀程度，就可以评定被检测试件中有（2）无缺陷及缺陷的性质、形状、大小和位置。 （2）电离检测法：当射线通过气体时与气体分子撞击，有的气体分子失去电子成为正离子，有的气体分子得到电子成为负离子，此即气体的电离效应。电离效应将会产生电离电流，电离电流的大小与射线的强度有关。如果将透过试件的X射线通过电离室测量射线强度，就可以根据电离室内电离电流的大小来判断试件的完整性。 （3）荧光屏直接观察法：将透过试件的射线投射到涂有荧光物质的荧光屏上时，在荧光屏上会激发出不同强度的荧光来，利用荧光屏上的可见影像直接辨认缺陷。这种方法成本低，适用于形状简单、要求不严格的产品的检测。 （4）电视观察法：是荧光屏直接观察法的发展，将荧光屏上的可见影像通过光电倍增管增强图像，再通过电视设备显示。这种方法检测灵敏度比照相法低，对形状复杂的零件检测困难。 6.r射线机的结构有几部分？ （1）源容器：射线源的储存装置（2）源组件（3）输源管：包塑的不锈钢软管，一端与源容器连接，另一端与照射头连接（4）驱动机构：控制部件、控制导管及驱动部件构成（5）附件：照射头、照射架。 7.简述射线胶片的结构？ 片基：透明塑料，厚0.175-0.30mm。 结合层：一层胶质