XRD专题测试一.ppt

第一章 X射衍射分析 第一节 原理和数据处理 第二节 X射线强度和系统消光规律 第三节 多晶结构分析——衍射指数标定 第四节 XRD专题测试 第四节 XRD专题测试（一） 4.1晶胞参数的精确测量 4.2晶胞中原子数目的测定 4.3固溶体组分的测定 4.4峰位的精确测定 4.5材料内部残余应力测定 4.1晶胞参数的精确测量 结晶物质在一定条件下具有一定的晶胞参数。但当温度、压力、化合物的化学计量比、固溶体组分比以及晶体中杂质含量的变化时，均会导致晶胞参数变化。 因此，精确测量晶胞参数可用于观测晶体的热膨胀系数、应力状况、杂质含量、化学计量比以及固溶体的组分比等。 1、精确测定晶胞参数途径 2、误差来源 3、精测点阵参数的方法 晶胞参数测定的基本步骤 （1）获得测试样的粉末衍射花样，计算晶面间距d （2）标定各衍射线条的指数hkl（指标化） （3）由d及相应的hkl计算点阵常数a（及b、c等） （4）消除误差得到精确的点阵常数值。 误差来源 衍射仪法中系统误差主要有： （1）焦点位移误差 （2）试样表面离轴误差 （3）试样透明误差 （4）平板型试样误差 （5）X射线的垂直发散误差。 （6）实验条件选择不当造成的误差 综合上述各项系统误差，衍射仪法的2θ的角度误差为： 精测点阵参数的方法 1、外推法 2、最小二乘法 3. 内标法 4. 晶胞参数的优化程序 （2）最小二乘法 最小二乘法是用数学方法从实验点出发寻求最佳直线或曲线的办法，画出晶格参数与外推函数的最佳关系曲线（回归直线）。 最佳——指实验值和关系曲线上相对应的点的数值之间的误差平方和最小 可得用Origin软件进行曲线拟合 A: 建立晶胞参数与误差函数的关系曲线 一般的直线关系曲线方程 　　　　y=a+bx　y—晶胞参数，x—误差函数 实验值与直线上点值之误差为 　　　　△yi=(a+bxi)直- yi测量 误差的平方和为 如立方晶系外推函数以 cos2 θ 为主，则正则方程为： (3)内标法（标准样品法） 内标法是实验室中精测晶胞参数最常用的方法，精确、简便。 内标法即将一种已知晶胞参数的标准物质掺入待测物中混合均匀，同时测定，根据标准物质的衍射线位来标定待测物衍射线位。 若标样的衍射峰与被测物衍射峰很接近又能分辨，则根据这个衍射峰就能精确测定出点阵参数 Cohen软件 晶胞参数测定的优化程序，高低角度均可 峰位的精确测定： （1）半高法；用半峰高处峰宽的中点作为峰的位置。 连结背底直线ab； 从衍射峰最高点作X轴的直线交ab于p′，pp ′ 即为高； 过pp ′的中点O ′作ab的平行线MN； MN中点即为峰位，在X轴（2θ）上即能读出. （2）三点抛物线法：当峰形较为漫散时，用半高宽法容易引起较大误差，可将峰顶部位假定为抛物线型，用所测量的强度数据拟合抛物线，求其最大值对应的2θ 角即为峰位。 具体方法： 光扫描峰顶，在近似顶点d左右两侧等间距处各取一点e、f　其间距△2θ视实际情况可选0.2°、0.5°、1°、1.5°等，然后测定e、d、f处的净强度Ie、Id、If，（定时计数） （3）质心法：（矩心法）精确测定晶胞参数时用。 以背景线以上整个衍射峰面积之质心所在的2θ为峰位。 质心2θ记为〈2 θ〉定义为： 方差法测宽度 线形均方标准偏差，线形宽度方差定义为： 质心和方差都有相加性的特点：所以实际测量质心和方差的计算采用下式: 方差法实验测定： ①确定扫测衍射峰的范围，如49.5~50.5。 ②确定增量即将扫描范围10分几等分测， ③由起始角起测量，在几个位置测，并将测量结果列成表： 4.1与精测峰位有关的测试项目 4.1.1晶胞参数的精确测量 4.1.2晶胞中原子数目的测定 4.1.3固溶体组分的测定 4.1.4材料内部残余应力测定 4.1.5峰位的精确测定 晶胞中原子数目的测定 4.1与精测峰位有关的测试项目 4.1.1晶胞参数的精确测量 4.1.2晶胞中原子数目的测定 4.1.3固溶体组分的测定 4.1.4材料内部残余应力测定 4.1.5峰位的精确测定 4.1.3固溶体组分的测量 固溶变化——晶胞变化——峰位变化 例如：在很多硅酸盐矿物中，Al-O键（1.75?）大于Si-O键（1.6?），所以随Si/Al比增高，Si进入铝氧四面体，类似于相互统计性置换而形成置换固溶体时，晶胞参数会随之减小。 所以:固溶体组分的测量，实际上是一个精确测量晶胞参数的问题。 1、晶胞参数呈性线变化的固溶体 固溶体晶胞参数与溶质原子浓度近似地呈线性关系，则可用如下方法测量固溶体组分 选择合适的衍射线， 可以转化为： Fe2O3与Cr2O3高温合成固溶体 六方晶系，其晶面间距、晶面指数和晶胞参数有下述关