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一种测量功率型LED热阻的方法.pdf

低温与超导 其它 Cryo.&Supereond. 第39卷第6期 Others V01.39No.6 一种测量功率型LED热阻的方法 肖炜,刘一兵 (邵阳职业技术学院机电工程系,邵阳422000) 摘要:叙述了正向电压法测量功率型LED温度系数足和热阻的原理,介绍了测试装置及具体测试过程,对蓝宝 石衬底正装LED和硅衬底倒装LED的温度系数和热阻进行了测量。选用热阻已知的LED样品,对其实际值与测 量值进行了比较,误差在5%左右,证实了这种热阻测量方法是可行的。 关键词:功率型LED;结温;热阻;测量 A methodforthermalcharacteristicsof LED measuring powertype XiaoWei.Liu Yibing ofMechanicaland (Department Electric,ShaoyangProfessional—TechnologyCollege,Shaoyang422000,China) forwardmeasurementofthethermalresistance Abstract:The and coefficientKwas voltage principle temperature investigated. Testdeviceandthe were coefficientand kindsof thermalresistanceoftwo specifictestingprocessintroduced,temperature LED, suchasLEDon andsiliconsubstrates LED were aLED and itsther- sapphire flip—mountedmeasured.Choosingsamplecomparing realresistancewiththemeasured errorwasabout5%.Thefactconfirmsthis values.the resistancemeasurementmethodisfeasible. Keywords:PowertypeLED,Junctiontemperature,Thermalresistance,Measurement 1 引言 2测量原理与过程 功率型LED作为半导体照明的关键部件,它 2.1 正向电压法测量热阻的原理 的结温变化会使芯片发射光谱红移,导致芯光粉 对半导体器件,通过电流与两端电压的关系 量子效率队降低,影响出光效率及色温、色度变 化,加速荧光粉及芯片的老化,缩短使用寿命…。 为:,,=以[exp(翳)_1] (1) 因此对功率型LED芯片的结温和热阻进行理论 分析和实验测量显得尤为重要。目前对半导体器 可简化为:IF=厶exp(qn碧T) (2) 件结温和热阻测量的主要方法有心J:红外热像仪 考虑到欧姆接触引起的压降变化,并对上式两 法、电

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