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一种测量功率型LED热阻的方法.pdf
低温与超导 其它 Cryo.&Supereond.
第39卷第6期 Others V01.39No.6
一种测量功率型LED热阻的方法
肖炜,刘一兵
(邵阳职业技术学院机电工程系,邵阳422000)
摘要:叙述了正向电压法测量功率型LED温度系数足和热阻的原理,介绍了测试装置及具体测试过程,对蓝宝
石衬底正装LED和硅衬底倒装LED的温度系数和热阻进行了测量。选用热阻已知的LED样品,对其实际值与测
量值进行了比较,误差在5%左右,证实了这种热阻测量方法是可行的。
关键词:功率型LED;结温;热阻;测量
A methodforthermalcharacteristicsof LED
measuring powertype
XiaoWei.Liu
Yibing
ofMechanicaland
(Department Electric,ShaoyangProfessional—TechnologyCollege,Shaoyang422000,China)
forwardmeasurementofthethermalresistance
Abstract:The and coefficientKwas
voltage principle temperature investigated.
Testdeviceandthe were coefficientand kindsof
thermalresistanceoftwo
specifictestingprocessintroduced,temperature LED,
suchasLEDon andsiliconsubstrates LED
were aLED and itsther-
sapphire flip—mountedmeasured.Choosingsamplecomparing
realresistancewiththemeasured errorwasabout5%.Thefactconfirmsthis
values.the resistancemeasurementmethodisfeasible.
Keywords:PowertypeLED,Junctiontemperature,Thermalresistance,Measurement
1 引言 2测量原理与过程
功率型LED作为半导体照明的关键部件,它 2.1 正向电压法测量热阻的原理
的结温变化会使芯片发射光谱红移,导致芯光粉 对半导体器件,通过电流与两端电压的关系
量子效率队降低,影响出光效率及色温、色度变
化,加速荧光粉及芯片的老化,缩短使用寿命…。 为:,,=以[exp(翳)_1] (1)
因此对功率型LED芯片的结温和热阻进行理论
分析和实验测量显得尤为重要。目前对半导体器 可简化为:IF=厶exp(qn碧T) (2)
件结温和热阻测量的主要方法有心J:红外热像仪 考虑到欧姆接触引起的压降变化,并对上式两
法、电
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