第4章 碎屑岩结构与粒度.pptVIP

沉积岩石学Sedimentary Petrology李振生 李双应2010年1月 3.1 碎屑成分 3.1.1 矿物碎屑 3.2.2 岩屑 3.2 填隙物成分 3.2.1 杂基 3.2.2 胶结物 3.3 成分成熟度 3.4 化学成分 第4章 碎屑岩结构及粒度分析Chapter 4 Clastic rock texture and grain size analysis Scheme for petrographic description of sandstones Hand specimen Colour; grain size; grain shape; bedding; lamination and any other sedimentary structures; fossils; composition. Thin- section Check the macroscopic features of the thin-sectionTexture: Matrix:Compaction:Cementation:Replacement/dissolutionPorosity:Classfication: Intepretation Depositional environment:Diagenesis: 4.1 碎屑颗粒的结构 4.1.1 碎屑颗粒的粒度； 4.1.2 碎屑颗粒的形状和球度； 4.1.3 碎屑颗粒圆度及颗粒表面结构； 4.1.4 填隙物结构. 4.1.4 填隙物结构 4.2 胶结类型及颗粒支撑性质 4.2.1 胶结类型 4.2.2 支撑结构 4.3 粒度分析 4.3.1 岩石粒度分析方法 4.3.2 粒度资料图解 4.3.3 粒度参数 4.3.4 粒度分析的应用 4.3.1岩石粒度分析方法 1、筛析法：适用于砂和弱胶结的岩石 2、沉降分析法 ：适用于粉砂、粘土分析 3、薄片分析法：适用于固结紧密的岩石 1、筛析法 研究砂的粒度，基本方法是筛析法。阿顿（1894、1914）提出，是砂、砾沉积物最常用的方法。 特点：简单准确；实用于分离10～0.1mm粒度的碎屑物；采样一套套筛和振筛器。 套筛的规格有两种，一种是以网目表示，另一种以筛子控径的大小表示。网目是指每一吋中的孔数，如美国制造的套筛，其相邻筛子孔径之比为根号2：1。孔径大小则直接用毫米表示的，孔径大小为：5，3，2，1，0.5，0.25，及0.1毫米。 缺点：①只对松散的或弱胶结的岩石适用，不适用胶结致密的砂岩；②软的或过脆的颗粒可能在筛析过程中因破碎而变细。 筛析法操作步骤 1、仪器设备准备：标准筛及毛刷、天平砝码、磁皿及橡皮头研棒、铁锤及铁钵等； 2、试样制备：疏松的样品，在磁研钵中用橡皮头棒研磨，使其分开，然后可在水中柱数小时使其离解更完全； 3、检查标准筛，按孔径大者在上的顺序理好，底加盘，顶加盖； 4、用天平称准备好的样品25克，倾入顶筛，加盖后振动，或在震荡器上振动5分钟； 5、过筛后的砂，从每层筛中取出，倒在包装纸上； 6、过筛的试样分别称重，按照各级碎屑重量记入表格，并算出各粒级重量百分比及累计百分比含量。 筛析记录表格 2、沉降分析法 常用的方法有移液管法和沉降管法 移液管法根据斯脱克公式，球体下沉的速度与其半径平方成正比： 该公式适用于小于0.05mm的粒度。 3、薄片法 对于固结的岩石，薄片法是粒度分析常用的方法。主要是因为弗里德曼（1958，1962）解决了薄片和筛析粒度对比换算之后。现在在薄片中进行直接量测十分广泛。 （1）关于切面效应问题：①同普通岩石切片相同，但粒度分析薄片相对要稍大些，特别是粗砂岩；②或者平行层面或者垂直层面，但最好是垂直层面。 （2）对分析的岩石选择：最好具有70％或更多的碎屑颗粒，分选较好，球度较高的中粗粒石英砂岩或复矿物砂岩。对于那些分选差含有大量杂基的砂岩或粉砂岩不适合用于薄片粒度分析研究。 （3）几种抽样方法：点计法、线计法和条带法。 点计法：用带有网格目镜的岩石显微镜，每一方格的边长应大于薄片中颗粒的最大直径，应用机械台使薄片通过显微镜视域，测量网格结点上所遇到的颗粒粒径。 线计法：用具有十字丝及测微尺目镜的岩石显微镜，在机械台上垂直目镜微尺的方向移动薄片，所有与十字丝竖丝相遇的颗粒都要测量，测完一行，平行微尺移动一定距离（测线的间隔要大于薄片内颗粒的最大视直径），然后再测量另一直线，直到测量得足够的颗粒。 条带法：将薄片放在机械台上，固定横坐标，使薄片垂直目镜微尺慢慢移动计算凡是颗粒中心在目镜微尺一定读数之间的颗粒，这个带的宽度要大于或等于样品内最大颗粒的最大视直径 （4）单个矿物颗粒的测定和薄片内应计的足够颗粒数：主要测量石英和长