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辐射剂量测量实验实验指导书个人剂量监测技术的发展经过胶片和热释光（Thermoluminescence Dosimeter， TLD），现在已经发展到了光致发光（Optically Stimulated Luminescence，OSL）。光致发光既有优于热释光剂量计的特点，主要是可以复读；又有优于胶片剂量计的特点，主要是灵敏度高，可以用于各种辐射监测目的，具有广泛的应用前景。实验目的掌握OSL剂量测量原理；熟悉OSL剂量测量方法。实验原理光致发光（OSL）技术的原理与热释光近似，也是利用物质晶体的磷光现象。由于受辐射损伤后产生的陷阱电子保存在晶格中，在光的作用下，这些陷阱电子被激发跃出陷阱与空穴复合，同时以光子发射的形式释放其能量。存在于晶体中的陷阱电子，对于光的反应却不相同。一部分是对光敏感的陷阱电子，它们在光的作用下跃出陷阱与空穴复合，随即放出光子，这类陷阱电子称为“光敏陷阱电子”。光致发光所测定的正是这些陷阱电子。与热释光技术通过加热的手段不同，光致发光是通过外加的光照来激发陷阱中的电子，使其退激发光。只有很少数电子被激发，使得剂量计具有了重复分析能力。发光量取决于剂量计所接受射线的剂量大小和入射光的强度。OSL剂量计外观如图1所示。（a）四元件OSL剂量计（b）单点剂量计Dot图1 光致发光（OSL）剂量计本实验采用的InLight便携式microStar手动型个人剂量监测系统（如图2所示）。InLight系统是一套剂量自动测量系统，使用蓝道尔公司的光致发光（OSL）技术。利用三氧化二铝（Al2O3：C）做成探测器，使用发光二极管（LED）阵列激发探测器来测量剂量。OSL材料激发的光子由使用对光子有高灵敏度的光电倍增管（PMT）检测和测量，激发的光子数量正比于辐射的剂量和激发光的强度，OSL技术允许对Al2O3：C重复分析。（对每次测量大约有0.2％的信号衰减）。InLightTM microStar系统为Inlgiht系统剂量计的读出器，包括一台读数仪，一个PC机，测量软件。MicroStar是最小的Inlight读数仪，可以用来在现场或者野外实时测量，给出精确的剂量评估。图2 InLightTM microStar系统实验注意事项仪器上的旋钮位于H/P档时，只能顺时针拧，不能逆时针拧；位于E4档时，只能逆时针拧回到H/P档，不要再顺时针拧。实验操作刻度刻度原理刻度的基本原理是利用读数仪测量已知受照剂量的剂量计，根据读数仪内置算法获取刻度曲线，作为测量待测剂量计的依据。刻度总共需要使用10块刻度剂量计，受照剂量值为5种，分别为0mSv，0.5mSv，5mSv，10mSv，50mSv，每种剂量值有2块。低剂量刻度使用0mSv，0.5mSv，5mSv这6块刻度剂量计，高剂量刻度使用0mSv，10mSv，50mSv这6块刻度剂量计。0mSv是低剂量和高剂量刻度共用的。刻度操作从样品盒中找出刻度剂量计，整理出各种剂量值（区分刻度剂量计和校准剂量计），从小到大摆在桌面上。打开microStar程序，进入刻度（C）界面：选择低剂量（L），点击开始向导（W），出现：光标放置在剂量计号输入框内，拿起0mSv的刻度剂量计，并使条码一侧对准条码扫面器，听见“嘀”声后，扫码成功。在受照剂量（mSv）一栏中填入0，点击下一步。拉出仪器上的测量槽，放入该刻度剂量计，推入测量槽。将旋钮顺时针拧半圈，指向E1档，仪器上LED灯亮，开始读取剂量计。LED灯灭后，屏幕出现：元件1一栏中自动出现测量数据，表示E1读取完成。继续将旋钮顺时针拧一格，指向E2档，同样必须等待屏幕出现测量数据后，才能继续顺时针拧到E3。如上操作，直至E4数据读取完毕，屏幕出现：此时要先逆时针将旋钮退回到H/P档，然后才能点击下一个（N）。这样就完成了一块刻度剂量计的刻度。再将低剂量刻度所需的剩余5块刻度剂量计依次按上述步骤刻度，最后不再点击下一个（N），而是点击结束（F），再点击接受（A）即可完成低剂量刻度。下面进行高剂量刻度。在刻度（C）界面选中高剂量（L），点击开始向导（W），后面操作方法与低剂量完全相同，只是把刻度剂量计换成了高剂量刻度所需的那6块，最后点击接受（A）即可完成高剂量刻度。校准操作先将刻度剂量计装回样品盒中收好。从样品盒中找出校准剂量计，因其外观与刻度剂量计基本相同（注意其反面标签标注内容），不能与刻度剂量计混放，否则不便区分。进入测读（R）界面，扫描该校准剂量计的号码，放入仪器的测量槽，依次拧旋钮到E1～E4，直至完成剂量计的测量，窗口下方会显示出深部剂量Hp（10）、浅表剂量Hp（0.07）、眼晶体剂量Hp（3）、Beta剂量和辐射品质结果。请记录该测量结果，并对比与校准剂量计的标称值是否吻合。测量操作进入程序的测读（R）界面，扫描待测剂量计的条码