53.X射线荧光法.ppt

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 5.3.1. 仪器装置 5.3.1.1. 波长色散型 5.3.1. 仪器装置 5.3.1.2.能量色散型 5.3.1. 仪器装置 5.3.1.3.非色散型 非色散型系统一般用于一些简单试样中少数几个元素的常规分析。 采用合适的放射源激发试样，发出的X射线荧光经过两个相邻的过滤片进入一对正比计数器。一个过滤片的吸收边界在被测线的短波方向，而另一个的在长波方向，两信号强度之差正比于被测元素含量。 这类仪器需要较长的计数时间。分析的相对标准差约为1％。 5.3.2. X射线荧光法及其应用 5.3.2.1. 样品制备 对金属样品要注意成分偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同； 成分不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片； 表面不平的样品要打磨抛光； 粉末样品要研磨至300～400目，然后压成圆片，也可以放入样品槽中测定。 对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面，则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。 对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水分后测定，也可以密封在样品槽中。 总之，所测样品不能含有水、油和挥发性成分，更不能含有腐蚀性溶剂。 5.3.2. X射线荧光法及其应用 5.3.2.2. 定性分析 X荧光的本质就是特征X射线，Moseley定律就是定性分析的基础。 目前，除轻元素外，绝大多数元素的特征X射线均已精确测定，且已汇编成表册(2θ-谱线表) 。 元素的特征X射线有如下特点： 1.每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比是确定的。 2.不同元素的同名谱线，其波长随原子序数的增大而减小。 5.3.2. X射线荧光法及其应用 5.3.2.2. 定性分析 峰的识别：首先把已知元素的所有峰挑出来，包括试样中已知元素的峰，靶线的散射线等。然后，再鉴别剩下的峰，从最强线开始逐个识别。识别时应注意： 1.由于仪器的误差，测得的角度与表中所列数据可能相差0.5o(2θ)。 2.判断一个未知元素的存在最好用几条谱线，如果一个峰查得是FeKα，则应寻找FeKβ峰，以肯定Fe的存在。 3. 应从峰的相对强度来判断谱线的干扰情况，若一个强峰是CuKα，则CuKβ应为Kα强度的1/5。当CuKβ很弱不符合上述关系时，则考虑可能有其他谱线重叠在CuKα上。 5.3.2. X射线荧光法及其应用 现代X射线荧光仪器对复杂试样进行定量分析能够得到等同或超过经典化学分析方法或其他仪器方法的精密度，但要达到这一精密度水平，需要有化学和物理组成接近试样的标样或解决基体效应影响的合适方法。 1. 基体效应 在X射线荧光测量中，到达检测器的分析线净强度一方面取决于产生此线的元素的浓度，另一方面受到基体元素的浓度和质量吸收系数的影响。 基体的吸收效应： ω = Is/Ip 增强效应：被测元素能够被基体中的其他元素的X射线荧光激发产生分析线的次级发射。 5.3.2. X射线荧光法及其应用 2. 常用定量和半定量方法 X射线荧光分析中常用的定量和半定量方法有标准曲线法、加入法、内标法等。 选择内标元素时应注意： 1.试样中不含该内标元素； 2.内标元素与分析元素的激发和吸收性质要尽量相似； 3.一般要求内标元素的原子序数在分析元素的原子序数附近(相差l～2)； 4.两种元素间没有相互作用。 5.3.2. X射线荧光法及其应用 3. 数学方法 在X射线荧光分析法中，采用标准曲线法或内标法等方法时，标样的制作十分费时和困难； 尤其是在基体效应复杂和基体元素变化范围较大的情况下，要得出准确的分析结果是不容易的。 为了提高定量分析的精度，发展了一些复杂的数学处理方法，如经验系数法和基本参数法等。随着计算机性能的提高和普及，这些方法已成为X射线荧光分析法的主要方法。 5.3.2.4. 应用 X射线荧光分析法可能是元素分析中最为有效方法之一。优点： 1. 特征X射线谱线简单，且谱线仅与元素的原子序数有关，方法的特征性强；