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cwi_0504_管制图.docVIP

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cwi_0504_管制图

管制图(control chart) 1924年美国的贝尔电话实验所的修华特博士(Dr. W.A. Shewart)首先提出管制图使用以后,管制图就一直成为科学管理上的一个重要的工具,尤其在品质管制里就成了一个不可缺乏的工具。 在生产的过程中,变异是正常的现象,其来自机遇原因的变异虽无可避免,但非机遇原因大都是人为或人力可以控制的。我们知道在日常的生产里,产品虽在正常的情况下生产,但其产品仍会随机做一上一下的变化,有些人靠经验来判断及处理,但经验多半依靠直觉,当直觉不可靠时,会产生严重后果,何况经验是有相当长时间的试误累积而来的。而利用管制图,可以依科学方法加以管制,并研究制程的变异研判是机遇原因或非机遇原因,适时地采取对策措施。 管制图的实施循环 在制程中,定时定量随机抽取样本。 抽取样本做管制特性的量测。 将结果绘制于管制图上。 判别有无工程异常或偶发性事故。 对偶发性事故或工程异常采取措施。 a.找寻原因。 b.改善对策、应急对策。 c.防止再发根本对策。 NO YES 管制图的实施循环 从上图可以看出,管制图的实施步骤是:抽取样本,进行检验,将检验的结果画制于管制图上,再从管制图来判断,工程是否正常,如为不正常即应采取必要的矫正措施。 管制图分类 管制图分为计量值管制图和计数值管制图两种。 计量值管制图 用于产品特性可测量的,如长度、重量、面积、温度、时间等连续性数值的数据有: (X—R:平均值与全距(幅值)管制图(表2—9—1) X?—R:中位数与全距管制图(表2—9—2) X—Rm:个别值与全距移动管制图(表2—9—3) (X—(:平均值与标准差管制图 其中以(X—R使用最普遍。 计数值管制图 用于非可量化的产品特性,如不良数、缺点数等间断性数据。有: P—Chart:不良率管制图(表2—9—4) Pn—Chart:不良数管制图 C—Chart:缺点数管制图(表2—9—5) U—Chart:单位缺点数管制图 其中以P—Chart应用较广。 初学管制图,可以先从(X—R图及P—Chart的使用开始,等熟练以后再视需要使用其他的图。 (三)(X—R管制图 (X主要管制图组间(不同组)的平均值变化。 R主要管制各组内(同一组样品)的范围变化。 例:一组测量数据5+2+10+7+4有5个 平均值(X=(5+2+10+7+4)/5=5.6 全距R= Xmax—Xmin=10—2=8 管制界限的计算。 (X图 (XR图系数表(表2—9—6) 样本n A2 D3 D4 2 1.880 3.27 3 1.023 2.58 4 0.729 2.28 5 0.577 2.12 6 0.483 2.00 7 0.419 0.076 1.924 (X=x1+x2+…xn/n X ?=(x1+(x2+…xk/k 中心线(CL)= x ? 上限(UCL)= X ?+A2 (R 下限(LCL)= x ?—A2 (R (X—R图系数表(表2—9—6) 2、管制图制作法。步骤: 收集最近与今后制程相似的数据约100个。 依测定时间或群体区分排列。 对数据加以分组,把2—6个数据分为一组。 *组内的个别数据以n表示。 *分成几组的个别组数以K表示。 *剔除异常数据。 记入数据表内(如图)。 计算每组平均值(X。 计算每组全距 R。 计算总平均值X ?。 计算全距平均(R。 计算管制界限值(下表)。 (X图 R图 中心线 CL= X ? CL=(R 上限 (UCL)= X ?+A2(R UCL=D4(R 下限 (LCL)= X ?—A2(R LCL= D3(R (10)划出管制界限。 所定的方格最好能在上下限间隔约20~30mm较合适。 (11)打上点记号。 点与点(组与组)距离约2~5mm较合适。在管制界限内的点以(为记,在管制界限外以(为记。 (12)记入其它有关事项。 (13)检查: (a)制程是否在管制状态下。(b)检讨制程能力。 3、管制界限与产品规格比较。 将计算管制图之数据整理成直方图,然后再与规格比较。 (1)直方图在产品规格值上、下限内,则所计算出来的管制上、下限可采用。 SU SL SU SL OK

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