多种图像采集策略下X射线折射信息的提取研究.PDF

物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 63, No. 10 (2014) 104206 多种图像采集策略下X射线折射信息的提取研究 王云波 李公平 潘小东 许楠楠 (兰州大学核科学与技术学院, 兰州 730000) ( 2013 年11 月30 日收到; 2014 年1 月13 日收到修改稿) 不同的图像采集策略下, 基于分析晶体相衬成像技术的折射信息提取方法(衍射增强成像法、广义衍射增 强成像法、多图成像法) 的折射角提取结果有明显的差异. 与摇摆曲线腰位作为图像采集位置的传统策略相 比, 采集位置靠近摇摆曲线中轴时, 衍射增强成像法能够提取得到更好的折射角结果. 广义衍射增强成像法 的三个图像采集位置相对摇摆曲线中轴对称时, 折射角的提取结果好于采集位置非对称的结果, 并且采集位 置靠近摇摆曲线中轴时, 折射角的提取结果好于摇摆曲线腰位或趾位的结果. 对于多图成像法, 相邻图像采 集位置的角度间隔大于摇摆曲线半高全宽时, 折射角提取结果非常差; 而当角度间隔小于半高全宽并且图像 采集位置对应的角度范围接近样品的最大折射角理论值时, 能够获得很好的折射角提取结果. 此研究有助于 实验上对图像采集策略的合理选择以及对折射信息提取方法的更深理解. 关键词: 折射信息提取, 图像采集, 相衬成像技术, 摇摆曲线 PACS: 42.30.Rx, 42.25.Gy, 41.50.+h DOI: 10.7498/aps.63.104206 晶体成像(ABI) 技术14−16 是目前被广泛研究和 1 引 言 应用的相衬成像技术之一, 可以提取出样品的折射 信息、吸收信息和超小角散射信息. 本文仅对折射 X 射线穿过物体时不仅振幅会发生衰减且相 角信息的提取进行讨论. ABI 是在分析晶体与单 位也会发生改变(相移), 其折射率 为复数形式, 色晶体(样品置于两者间) 的夹角位置采集得到的 = 1 i , 其中 和 分别表示相位因子(X 光子强度图像, 并利用折射信息提取算法实现样 射线传播过程中的相移) 和吸收因子(X 射线的吸 品相位信息的获取, 进而重建样品的内部结构. 因 收), = e e /2, = /4. 这里 e 为经典 此, 在样品的相位衬度成像实现过程中, 折射信息 电子半径, e = 2818 10− m; e , 和 分别 的提取尤为重要. 目前, 存在的折射信息提取方法 为样品内某几何点的电子密度和入射X 射线波长 主要有衍射增强成像(DEI) 法16−8 、扩展衍射增 1−3 69 以及吸收系数 . 传统的X 射线成像技术仅考虑 强成像(E-DEI)法 、广义衍射增强成像(G-DEI) 了X 射线的衰减信息(吸收衬度), 忽略了折射信息 法610−12 、多图成像(MIR)法161314 和高斯曲线 (相位衬度). 轻元素样品(即对X 射线弱吸收样品) 拟合近似(GCF) 法1615 等. 在这些方法中, DEI 的 值比 值大1000 倍左右, 而对于原子序数较高 和E-DEI 方法需要采集两幅图像, G-DEI 方法需要 元素组成的样品, 与 也相差10 倍甚至100 倍左 采集三幅图像, MIR 和GCF 方法则需要采集多幅 右(尤其在X 射线能量较高情况下)3 . 因此, 与吸 (不少于三幅) 图像, 其中