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液晶光电特性试验量测系统-DRR
液晶光電特性實驗量測系統
前言
光電量測系統的自動化可以方便控制所需的電壓以及擷取訊
號，使原本需要很長時間的實驗可以縮短，利用已知的TN 型液晶與Homogeneous型液晶
(a) 電壓OFF，光透過（亮） (b) 電壓ON，光遮蔽（暗）
Homogeneous型
系統設置
光學板，He-Ne 雷射，線偏振片×2，光衰減片，樣本架，光偵測器，示波器(或電錶)，波形產生器。
光學元件支撐器、棒與座(若干個) ，雷射架，偏振片旋轉座×2。
BNC線(若干條) ，BNC轉雙鱷魚夾線、BNC1對2轉接頭
量測結果
液晶薄膜為扭曲配向，而前後偏振片相互垂直，此稱做正常白(NormallyWhite, NW)模式。
慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓慢慢降低，表示光被阻擋住而形成暗態。
液晶薄膜為扭曲配向，而前後偏振片相互平行，此稱做正常黑(Normally Black,NB)模式。
慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓慢慢增加，表示光穿透而出形成亮態。
液晶薄膜為平行配向，而前後偏振片相互平行，且前偏振片之偏振軸與液晶配向方向夾角為45°。
慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓快速高低震盪，最終降至低點，表示光束被快速開關而最終達到暗態。
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