x射线荧光光谱法分析硅微粉 analysis on silica fume by x-ray fluorescent spectrometry.pdfVIP

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2017-11-22 发布于上海
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x射线荧光光谱法分析硅微粉 analysis on silica fume by x-ray fluorescent spectrometry

建材世界年第卷第期 2014 35 2 : / doi 10.3963 .issn.1674-6066.2014.02.011j X射线荧光光谱法分析硅微粉 , 1 1 1 2 , , 张望李建梅严回 ( , ; , ) 1.蚌埠玻璃工业设计研究院蚌埠 233018 2.国家特种玻璃质检中心蚌埠 233018 摘要: , 、、、该文介绍了采用玻璃熔片法建立了测定硅微粉中的 SiO ZrO Al O Fe O 等的射线荧光光谱分 2 2 2 3 2 3 X 。 , 析方法以锆英石标准样品和具有代表性的硅微粉样品作为标准样品绘制标准曲线解决了没有硅微粉标准样品的 , 、。、 , 问题并对熔剂选择熔融条件和测量条件等进行了探讨该方法用于硅微粉中主次成分的测定结果与化学分析和 , , 。 ICP-AES 法进行比对结果表明该方法可满足硅微粉生产与科研中的分析要求关键词: 射线荧光光谱; 硅微粉; 熔融玻璃片 X Anal sis on Silica Fume b X-ra Fluorescent S ectrometr y y y p y , 1 2 1 1 , , ZHANGWang LI Jian-mei YAN Hui ( , , ; 1.Ben bu Desi nResearch Institute for Glass Industr Ben bu 233018 China g g y g , , ) 2.Nati