高纯锗探测器探测效率的MCNP模拟.pdfVIP

第48卷 第5期 吉 林 大 学 学 报 (理 学 版 ) Vo1．48 No．5 2010年9月 JournalofJilinUniversity(ScienceEdition) Sep 2010 研 究 简 报 高纯锗探测器探测效率的MCNP模拟 张建芳 ，赵广义 ，王玉德 ，王明勇 ，马玉刚 ，张 慧 (1．吉林大学 物理学院，长春 130012；2．鞍山师范学院 物理系，辽宁 鞍山 114005) 摘要：利用同轴型高纯锗(HPGe)探测器测量 Eu和 Ba在 15cm处的探测效率，调节探测 器死层厚度和冷指尺寸，利用MonteCarlo方法对同轴型HPGe探测器的全能峰效率进行模拟 计算，并将计算效率与实验效率进行 比较．结果表 明，当HPGe探测器 的死层厚度为 0．22cm，冷指半径和长度分别为0．301cm和 1．O0em时，模拟效率与实验效率相符． 关键词：高纯锗探测器 ；全能峰探测效率；MonteCarlo方法；死层厚度 ；冷指尺寸 中图分类号 ：0434．1 文献标志码 ：A