涡流检测课件作者任吉林1+涡流检测理论.ppt

为定值 为变量 为定值 为变量 实线为 定值， 虚线为 定值 有效磁导率平面图 有效磁导率平面图 直径变化为弦线变化 2、放置式线圈阻抗分析 饼式探头、平面探头、弹簧探头和笔式探头 影响放置式线圈阻抗的主要参数 电导率 磁导率 频率 缺陷 工件厚度 其它条件均相同情况下，电导率不同，检测线圈阻抗变化如图所示，随着电阻率的增加，阻抗值沿着阻抗曲线向上移动。 ⑴ 工件电导率 线圈与工件之间的距离变化，会引起检测线圈阻抗变化，这种距离影响效应称为提离效应。 ⑵ 提离效应 小提离，阻抗大变化 小直径探头阻抗随着提离的变化比大直径探头还要大。 提离效应影响很大，必须抑制，但利用提离效应可测量金属表面覆盖层厚度。 为了消除磁导率的影响，需用磁化装置将被检区磁化到饱和，从而使磁导率变小至常数，减小磁导率变化的影响。 ⑶ 磁导率对阻抗图的影响 ⑷ 频率影响 频率和电导率效应在阻抗图上的影响是一致的。 过小，则电导率变化方向与直径变化方向夹角很小；但也不宜选择过高。 当工件变薄时，阻抗值沿着曲线向上移动，与电阻率增大的结果类似。 ⑸ 厚度影响 裂纹 工件变薄 合金成分增加 温度升高 线圈直径增加，阻抗沿着曲线向下移动（类似频率） ⑹ 探头直径影响 3、信号相位 * * * * * * * * * * * * * * * * * * 自感 线圈自感仅与线圈尺寸、匝数、几何形状及线圈中媒质有关，与通过线圈电流无关 互感 线圈互感与线圈尺寸、匝数、几何形状及线圈中媒质有关，还与线圈间的相互位置有关 耦合系数 涡流及集肤效应 涡流 集肤效应 标准渗透深度 有效渗透深度：2.6 涡流密度衰减90% 二、阻抗分析法 实施涡流检测的关键：从信号中提取信息，排除干扰信号，以达到消除干扰信号的目的。 阻抗分析法的重大突破：直到阻抗分析法的引进，使涡流检测技术得到了重大的突破和广泛应用。 阻抗分析法：分析涡流效应引起线圈阻抗的变化及其相位变化之间的密切关系为基础，从而鉴别各影响因素效应的一种分析方法。 单个线圈：忽略线匝间分布的电容，线圈复阻抗： 线圈耦合：原边线圈通以交流电，耦合影响用副边线圈阻抗折合到原边线圈电路折合阻抗来体现。 原边线圈阻抗 因此认为原边电流或电压变化，是由于视在阻抗变化引起的。 视在阻抗 二次电阻 从∞→0 或 X2从0→∞ 半径为 ，其中 采用阻抗归一化处理方法解决。 1-K2 R2 阻抗归一化：原边线圈耦合系数、频率有关 消除了原边线圈阻抗影响； 影响阻抗因素（如电导率、磁导率等）作参量； 形象表示影响阻抗因素效应大小和方向，为选择检验的方法和条件提供参考依据； 对于各种类型的工件和检测线圈，有各自对应的阻抗图。 有效磁导率：[福斯特（Forster）理论重要创新]。 把实际工件中各点具有不同的磁场强度和具有相同磁导率等效地假设成工件中各点具有相同的磁场强度和不同的有效磁导率。 模型假设： 线圈内部轴向均匀磁化场H0； 圆柱体试件无限长，端头效应忽略不计； 试件的电导率和磁导率不变； 激励电流为单一频率正弦波，非线性谐波不考虑； 试件直径等于线圈内径。 二、有效磁导率和特征频率 福斯特模型： 变化磁场强度、恒定磁导率 恒定磁场强度和变化磁导率（有效磁导率μeff ） 福斯特的假想模型 磁场强度真实分布 通过导体任一横截面的磁通相量为： 式中： 是零阶和一阶贝塞尔函数 关系式： 按照Forst模型可得 式中，贝塞尔函数的虚宗量为 利用开尔文函数关系式： 有效磁导率 特征频率是工件的固有特性，取决于工件的电磁 特性及几何尺寸。 的贝塞尔函数虚宗量为 电导率，单位S/m 磁导率，单位H/m 半径，单位为m 特征频率 工程上常采用混合单位制。对于非铁磁性材料， 可得 式中， 电导率，单位 ； 试件直径，单位cm。 在常用的工程单位制中，还可表示为： 式中， 电导率，单位为％IACS； 试件直径，单位cm。 特征频率公式变化： 分析检测线圈阻抗时，常以 作 参数。有效磁导率亦可用频率比 作为变量。 频率比： 对于两个不同的试件，只要各自对应的频率比f/fg值相同，则有效磁导率、涡流密度及磁场强度的几何分布也相同。 涡流试验相似律 不连续性的涡流试验相似律 涡流试验相似律 含圆柱导体长直载流螺线管：设圆柱导体半径 小于螺线管的内半径 ，单位长度的匝数为 。 三、归一化感应电压 填充系数 线圈单位长度上的感应电动势为： 单位长度上线圈归一化感应电动势为： 故空载时单位长度上的感应电动势为： 线圈空载时，横截面上的磁通量为： 螺线管有载，