电子设备维修技术第2版课件作者陈梓城主编故障自诊断技术与专家系统故障诊断.ppt

《电子设备维修技术》 第二章 检查电子设备故障 的基本方法 2.3故障自诊断技术与专家故障诊断系统 2.4 其他现代故障诊断方法简介 机内自检设备简介 微处理器系统的故障自诊断技术 专家故障诊断系统简介 现代故障诊断方法简介 故障自诊断技术与专家系统故障诊断 故障自诊断技术又称自诊断法。电子装备内含用于故障自诊断的设备称为机内自检设备BITE(Built In Test Equipment) 机内自检设备是系统或设备内部提供的检测和隔离故障的自动测试能力的装置。 这一类系统或设备具有故障自动检测与隔离能力。 机内自检设备也称内装式测试设备，它是一种特殊的自动测试设备，通常安装在被测系统或设备内部，且与被测系统或设备融于一体。 机内自检设备就是采用自诊断技术和具有故障自动隔断能力的设备。 1. 机内自检技术分类 机内自检技术BIT可分为： 余度机内自检技术 环绕机内自检技术 特征分析机内自检技术 机内逻辑块观察技术 参数测试机内自检技术 编码检错技术 智能机内自检技术等 本节仅对余度机内自检技术、智能机内自检技术进行简介 (1)余度机内自检技术 采用余度机内自检技术原理框图如图所示。在采用余度机内自检技术的系统内，被测电路设置成相同的两路，其中一路是被重复设计的余度单元，余度单元与被测电路输入相同的激励信号，通过比较这两路的输出来判断电路工作状态是否正常，若输出值不同且其差值超过某一阈值，就说明被测电路发生故障。图中差动放大器用于电路幅值差值的检测，窗口比较器用来检测超过阈值部分的具体位置，故障闭锁器用来锁定故障，以便故障的显示或检测。 2.智能机内自检技术 是由美国空军航空发展中心Dale W.Richards于1987年首次提出的。当时的主要目的，是把人工智能理论引入到机内自检技术的故障诊断中来，用来解决常规机内自检技术不能识别的间歇故障的问题。随后把专家系统、神经网络等智能理论和方法先后引入到机内自检技术的故障诊断之中，以提高故障诊断的能力。 将包括专家系统、神经网络、模糊集合理论、信息融合技术等智能理论应用到机内自检技术的设计、检测、诊断、决策等方面，以提高机内自检技术综合效能。例如有的雷达在闭合电源开关后，会自动按模块逐一进行自检，当检测各模块无故障，按显示屏提示合上启动按键，雷达开始运行，否则，设备自锁，不能运行。结构图如图2-3所示。 机内自检设备简介 微处理器系统的故障自诊断技术 专家故障诊断系统简介 现代故障诊断方法简介 微处理器系统的故障自诊断技术是微处理器系统设备利用软件程序对自身硬件电路进行检查，以及时发现系统中的故障，根据故障程度采取校正、切换、重组、或报警等技术措施，或直接显示故障部位、原因等。 故障自诊断方式有三种：①上电自检。设备上电后，先对仪器设备进行自检，避免系统带故障运行。②定时自检。由系统周期性地在线自检，以及时发现运行中的故障。③键控自检。操作者可随时通过键盘操作来启动一次自检 1.CPU的故障自诊断 如CPU出现故障，整个系统不能正常工作，所以CPU的自诊断是最困难的。 专业性的CPU测试程序是根据CPU的结构特点编写而成的。由于CPU的故障的发生具有随机性，须经过足够次数的测试方能查出CPU故障。一般用户系统的CPU自诊断程序可认为是系统的测试程序，如系统能正确地运行自检程序，则可认为CPU自身也是正常的。 2.ROM的故障自诊断方法 EPROM的窗口未封好，经外界光线较长时间作用会改变其存储信息。E2PROM的存储信息也可能因受电干扰而发生意外改变。ROM信息的改变势必使原设计程序发生错误，并以软件故障的形式反映出来，使系统无法正常运行。 ROM为只读存储器，对其自诊断只需判断从ROM中读出的数据是否正确即可。具体方法很多，常见的ROM的自诊断的方法有“校验和”、单字节累加位法、双字节累加位法等。校验和法又称奇/偶检验法，是较常用的自诊断方法，具体实施步骤如下： 当写入程序代码和数据表格时，在ROM中保留一个单元(通常保留紧接有效信息后的一个)，用于存放所有有效代码的校验和(加法和或者异或和)，加法和是有效代码的对应位进行不进位加法的值，应将其取补存放；异或和是有效代码的异或值，可直接存储。在自诊断时，将有效代码和校验和逐一读出，同时按写ROM时相应的运算规则计算其校验和。若ROM中的数据正确，则加法和的值应全为1，而异或和的值应全为0，否则即是ROM的内容已发生变化。 3.RAM的故障自诊断 (1)固定模式测试 固定模式测试是将某数据写入被测试的RAM单元中，然后再从中读出并与原始数据进行比较，以此来判断RAM的写入和读出的故障。为检查字节单元的各个位之间的影响，应将可能出现的每一种数据组合都进行一次测试，如8位RAM字节所有的数据组合00为～FFH