中国安全生产科学研究院-液氨安全生产管理专题讲座课件.ppt

结构约束-冗余容错 硬件故障裕度/硬件故障容错（HFT）: 硬件功能单元在故障存在的情况下，持续完成所要求功能的能力。 IEC61511逻辑控制器结构约束 SIL 最低硬件故障裕度(HFT) SFF 60% SFF 60% to 90% SFF 90% 1 1 0 0 2 2 1 0 3 3 2 1 4 特殊要求应用- 见IEC 61508 SIL 最低硬件故障裕度（HFT） 1 0 2 1 3 2 4 特殊应用要求-见IEC61508 IEC61511传感器、最终元件和非PE逻辑控制器 LT - 101 V - 101 LIC 101 LT - 102 SV IAS LV - 101 XV - 101 产品 分离器 2oo2表决 LT - 101 V - 101 LIC 101 LAL SV IAS SV IAS LV - 101 XV - 101 XV - 102 产品 分离器 LAL LT - 102 LT - 103 1oo2 表决 2oo3表决 传感器结构安全性 1oo2＞2oo3＞1oo1＞2oo2 传感器结构过程可用性 2oo2＞2oo3＞1oo1＞1oo2 检验测试（Proof Test）周期 对SIS或其子系统进行的周期性的物理测试或功能检查。 用于检查隐性失效；