电气绝缘测试技术第３版课件作者刘耀南邱昌容西安交通大学主编第二章节电容(相对介电常数)及损耗.pptVIP

407B 第三节　谐振法测量CX及tanδ 图2-22　Q表原理图 407B 第三节　谐振法测量CX及tanδ 三、 变电纳法测量tanδ从图2-21可以看出，谐振曲线的宽度ΔC与谐振回路的损耗有一定的关系，损耗愈大，ΔC就愈大，变电纳法就是利用接和不接试品两种情况下，回路谐振曲线宽度ΔC的变化来测量试品的tanδ。 407B 第四节　测量误差及其消除方法 一、 外来电磁场干扰 图2-23　外电场干扰示意图 407B 第四节　测量误差及其消除方法 图2-24　倒相法测量、tan的相量图 407B 第四节　测量误差及其消除方法 二、 外界耦合阻抗 图　2-25 407B 第四节　测量误差及其消除方法 三、 电极、导线等可能造成的误差 1. 接线的影响 图2-26　接线与试品的等效阻抗图 407B 第四节　测量误差及其消除方法 2. 电极接触不良的影响 图2-27　电极接触不良的等效阻抗 407B 第四节　测量误差及其消除方法 3. 电极边缘的影响 图2-28　电极边缘效应分析图 407B 第四节　测量误差及其消除方法 4. 消除或减少接线及电极带来误差的方法 图2-29　测微电极结构图1—接地端　2—高压电极(接伏特计)　3—试品4—接地电极　5—波纹管　6—测微螺钉7—微调电容器　8—高压电极(接电路) 407B 第四节　测量误差及其消除方法 (1) 简单方法　消除或