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- 2017-12-05 发布于湖北
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OLED测试报告
2013-11-19 10:49:05
SE 1.0.3.9 REPORT
Sturcture FileName: C:\Program Files\Raditech\SE-3\Recipes\130502\BH on wafer.recipe
Index Name Material Thickness (µm) TYPE N K @ 633 nm
Ambient VOID 1.000 0.000
Layer - 1 BH 0.0973 5± 0.001821 Dispersion 1.7
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