光纤熔接及损耗测试.pptVIP

光纤熔接及损耗测试 一、光纤熔接技术 1、光纤熔接机结构图 2、熔接工艺流程图 3、光纤熔接技术 （1）、熔接方法 Ⅰ 熔接基本原理：利用高温将被接的光纤熔化，同时把它们烤在一起，便形成：“熔为一体”的接续点，显然这种接续的稳定性最好。这里高温产生于高压尖端放热，把光纤熔融在一起。尖端放电的温度约达2000℃，使光纤熔化而焊接起来。 Ⅱ 熔接的基本过程： a 先把光纤端面处理好，最好光纤端面与轴心垂直，或与垂直线相差＜1°。 c 保护接点：熔接点附近的光纤历经高温是“真裸”，因此十分脆弱。即使熔接得很好的接点，承受弯曲的能力也比较差，因此，有必要立即施加保护。正常加热缩套筒如图1.3—5和1.3-6所示。 4、光纤接头损耗测试 光纤连接后，光传输经过接续部位会产生一定的损耗，习惯称之为接头损耗。不论是单模光纤还是多模光纤，被连接的两根光纤基其本身的几何、光学参数不完全相同和连接时轴芯错位、端面倾斜、端面间隔大、端面不清洁等因素产生接头损耗。 方法一、光源光功率计测试接头损耗 用衰减定义A= 10lgP1/ P2( dB ) 分别测出光纤A的输出功率P1，接续后，A、B两根光纤光功率P2，设接头损耗为ASˊ，光纤B的传输损耗ABˊ。则10lgp1/P2=ASˊ+ ABˊ,即ASˊ=10lg－ABˊ 方法二、OTDR测试接头损耗 二、光纤损耗测试 1、插入法 剪断法测光纤损耗是一种破坏性的实验。在工程上一般采用插入法测试光纤损耗。插入法测试衰减同样是依据定义直接测试。 2、OTDR测试 （1）、光时域反射仪（OTDR）的工作原理 用脉冲发生器调制一个光源，使光源产生窄脉冲光波，经光学系统（透镜）耦合入光纤，光波在光纤中传输时出现散射，散射光沿光纤返回，途中经一耦合装置，经光学系统（透镜）输入到光电检测器，变成电信号，再经放大及信号处理，送入示波器显示。 （2）、OTDR测试连接图 （3）OTDR各种类型事件 非反射事件的例子：光纤的熔接点与弯曲点会引起损耗，但通常不会引起明显反射。 反射事件的例子：光纤的活接头点、机械接头和裂缝等点会引起损耗与反射。 终端反射事件的例子引起明显反射，通常称为菲涅尔反射峰。 A、OTDR选择的基本要求 Ⅰ、按光纤的传输模式选择。Ⅱ、按光纤的使用波长选择。Ⅲ、根据光纤传输距离和被测线路的损耗选择合适的量程、“菲涅尔反射”单程动态范围。根据传输距离确定盲区的大小，一般仪表的盲区为100m—500m左右。 B、OTDR相关技术指标 动态范围：始端后向散射电平与噪声之间的dB差。动态范围决定了OTDR所能测到的最长光纤距离。 折射率指数：根据被测光纤的折射率实际情况，在仪表上进行折射率设置（INDEX），以免影响测试精度。 脉冲宽度：根据被测光纤长度选择合适的量程，用“”选择合适的脉冲。 近端盲区；根据传输距离确定盲区的大小，一般为100m—500m左右。 C、信号曲线检测的要求：双向测量 * * b 对正：光纤与光纤对正如下图